PRS-002 — Procédure supplémentaire pour l’évaluation de la conformité au CNR-102 dans la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz

2e édition
Octobre 2022
Avis de la Gazette SMSE-016-22

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Préface

La présente procédure supplémentaire d’Innovation, Sciences et Développement économique Canada (ISDE) décrit les exigences techniques et les procédures d’évaluation à respecter pour démontrer la conformité aux limites d’exposition aux radiofréquences (RF) énoncées dans le Cahier des charges sur les normes radioélectriques CNR-102, Conformité des appareils de radiocommunication aux limites d'exposition humaine aux radiofréquences (toutes bandes de fréquences), dans la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz. Elle s’applique à tous les appareils de radiocommunication produisant des émissions RF dans cette gamme de fréquences. Elle s'applique également à certains matériels brouilleurs, notamment le matériel industriel, scientifique et médical.

La 2e édition de la Procédure supplémentaire PRS-002, Procédure supplémentaire pour l’évaluation de la conformité au CNR-102 dans la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz, remplace la 1re édition de la PRS-002, Procédure supplémentaire pour l’évaluation de la conformité aux limites d’exposition relatives à la stimulation des nerfs énoncées dans le CNR-102, qui date de septembre 2016.

La 2e édition de la PRS-002 est une révision importante de la 1re édition. Les principales différences peuvent être résumées comme suit :

  1. La portée a été élargie afin d’inclure : 
    1. les évaluations par rapport aux limites d’exposition aux RF visant à prévenir la stimulation des nerfs (SN) et les effets thermiques;
    2. les évaluations en fonction des niveaux de référence et des restrictions de base;
    3. les évaluations informatiques et basées sur des mesures.
  2. Les directives concernant les évaluations basées sur des mesures en fonction des niveaux de référence ont été modernisées afin de convenir aux nouveaux dispositifs et aux nouvelles technologies.
  3. Les facteurs d’assouplissement pour l’exposition des membres dans les évaluations en fonction des niveaux de référence ont été modifiés.
  4. Les normes CEI/IEEE 62704-1 et 62704-4 servent de base pour l’évaluation informatique et le présent document fait référence à ces normes.
  5. Une annexe fournissant des directives précises et détaillées pour la mise en place de transferts d’alimentation sans fil a été ajoutée. Elle met l’accent sur la recharge des dispositifs portatifs et des véhicules électriques.

Publication autorisée par le ministre de l’Innovation, des Sciences et de l’Industrie.

Le directeur général,
Direction générale du génie, de la planification et des normes

 
 
 

Martin Proulx

Les demandes de renseignements peuvent être présentées de l’une des façons suivantes : 

  1. En ligne à l’aide du formulaire de Demande générale. Dans le formulaire, sélectionnez le bouton radio Direction des normes réglementaires, dans le champ Indication de la norme/procédure, sélectionnez (CNR) Cahiers des charges sur les normes radioélectriques (p. ex., CNR-102) et précisez « PRS-002 » dans le champ Demande générale;
  2. Par courrier à l’adresse suivante : 
    • Innovation, Sciences et Développement économique Canada
      Direction générale du génie, de la planification et des normes
      Direction des normes réglementaires
      235, rue Queen
      Ottawa (Ontario) K1A 0H5
      Canada
  3. Par courriel à l’adresse consultationradiostandards-consultationnormesradio@ised-isde.gc.ca.

Il est possible de formuler des commentaires et des suggestions dans le but d’améliorer la présente norme en se servant du formulaire en ligne Demande de changement à la norme, ou par la poste ou par courriel en utilisant les adresses présentées ci-dessus.

Les documents d’ISDE sur le spectre et les télécommunications sont disponibles sur son site Web Gestion du spectre et télécommunications.

Portée

La 2e édition de la Procédure supplémentaire PRS-002 définit les méthodes d’évaluation de la conformité aux limites d’exposition aux radiofréquences (RF) visant à prévenir la stimulation des nerfs (SN) et les effets thermiques, énoncées dans le Cahier des charges sur les normes radioélectriques CNR-102, Conformité des appareils de radiocommunication aux limites d'exposition humaine aux radiofréquences (toutes bandes de fréquences), pour la gamme de fréquences allant de 3 kHz à 10 MHz.

Les exigences de ce document s’appliquent aussi aux sous-ensembles sources de transfert d’alimentation sans fil (TASF) de type 1, classés dans la catégorie du matériel brouilleur, plus précisément comme matériel industriel, scientifique et médical (ISM), afin de démontrer la conformité au Code de sécurité 6 de Santé Canada.

1.1 Période de transition

 

La PRS-002 sera en vigueur dès sa publication sur le site Web d’Innovation, Sciences et Développement économique Canada (ISDE). Toutefois, une période de transition de 12 mois suivant sa publication sera accordée, au cours de laquelle la certification utilisant soit les exigences de la 2e édition ou de la 1re édition de la PRS-002 sera acceptée. Après cette période, seules les demandes de certification d'équipement utilisant les exigences de la 2e édition seront acceptées, et l'équipement fabriqué, importé, distribué, loué, mis en vente ou vendu au Canada devra être conforme à cette édition.

Un exemplaire de la PRS-002, 1re édition, peut être demandé par courriel à consultationradiostandards-consultationnormesradio@ised-isde.gc.ca.

2. Objet et application

La présente procédure supplémentaire liée au CNR-102 fournit des directives générales pour les évaluations informatiques et basées sur des mesures de l’exposition aux RF dans la gamme de fréquences allant de 3 kHz à 10 MHz, ainsi que les combinaisons d’expositions de plusieurs émetteurs et/ou de fréquences multiples.

À l’exception de l’annexe F, les annexes de la PRS-002 sont normatives et fournissent des directives supplémentaires sur le calcul de la moyenne spatiale et les méthodes d’évaluation pour la mise en place de TASF, par exemple pour permettre la recharge de dispositifs portatifs ou de véhicules électriques, ainsi que pour divers types d’appareils courants, comme les systèmes électroniques de surveillance d’articles, les détecteurs de métal, les systèmes d’identification par radiofréquence, les capteurs de système de surveillance de la pression des pneus et les systèmes de sécurité pour automobiles.

ISDE peut envisager des méthodes d’évaluation qui ne figurent pas dans la PRS-002 ou les références normatives énumérées à la section 3. Pour plus d’information sur l’acceptabilité d’une autre méthode de mesure, veuillez consulter la liste des Knowledge database, des autres procédures supplémentaires et des avis acceptés par ISDE. Les demandes détaillées concernant les méthodes de mesure peuvent toutefois être envoyées à certificationbureau-bureauhomologation@ised-isde.gc.ca, tandis que les demandes concernant les méthodes informatiques doivent être soumises à consultationradiostandards-consultationnormesradio@ised-isde.gc.ca.

3. Références normatives

Les documents ci-dessous doivent être consultés pour l’application de la PRS-002. À moins qu’une édition soit précisée, l’édition la plus récente de ces publications doit être consultée.

 
Code de sécurité 6 (Lignes directrices de Santé Canada sur l’exposition aux radiofréquences)

4. Définitions, abréviations, acronymes et symboles/unités

La présente section contient les définitions et les abréviations et acronymes des termes utilisés dans le présent document, ainsi que les symboles et les unités utilisés pour exprimer les grandeurs.

4.1 Définitions

Les termes qui suivent sont utilisés dans le présent document.

Dispositif portatif : dispositif conçu pour être utilisé de façon à ce que la ou les structures rayonnantes se trouvent à moins de 20 cm du corps, comme un téléphone intelligent ou une tablette.

Dispositif TASF client : dispositif en mesure de recevoir sans fil de l’énergie provenant d’un dispositif TASF source.

Dispositif TASF source : dispositif raccordé directement (c.-à-d. au moyen d’une connexion filaire) à une source d’alimentation, comme l’alimentation secteur, une batterie ou toute autre source d’énergie électrique interne ou externe, qui est en mesure de transférer de l’énergie sans fil à un ou plusieurs dispositifs TASF clients.

Distance de séparation : distance minimale entre le MAE et toute partie du corps d’un utilisateur ou d’une autre personne pour une évaluation donnée.

Gestion du transfert d’alimentation : capacité de certains dispositifs TASF à échanger de l’information relative au transfert d’alimentation entre le dispositif source et le dispositif client à des fins telles que la détection d’objets ou de dispositifs non valides du client, la transmission d’informations sur l’état, l’envoi de commandes du dispositif source au dispositif client et l’envoi de confirmations du dispositif client au dispositif source.

Région d’exposition : région de l’espace faisant l’objet d’une évaluation de l’exposition aux RF. Pour les évaluations en fonction des restrictions de base, la région d’exposition correspond au volume d’espace qui serait occupé par un fantôme équivalent au tissu, tandis que pour les évaluations en fonction des niveaux de référence, elle correspond à la surface d’évaluation.

Surface d’évaluation : surface sur laquelle les champs incidents sont évalués en fonction des niveaux de référence.

Transfert d’alimentation sans fil (TASF) : transfert d’alimentation depuis un ou plusieurs dispositifs sources vers un ou plusieurs dispositifs clients par l’intermédiaire d’ondes ou de champs électromagnétiques à l’aide d’un champ magnétique (inductif ou résonant), d’un champ électrique (capacitif ou résonant) ou de moyens radiatifs, sans contact électrique entre les dispositifs sources et les dispositifs clients, afin d’alimenter ou de recharger sans fil les dispositifs clients.

Valeur moyenne quadratique (RMS) instantanée maximale : valeur RMS instantanée temporelle maximale.

Valeur moyenne quadratique (RMS) instantanée : racine carrée de la moyenne du carré de l’amplitude de la forme d’onde instantanée mesurée sur une période de la composante fréquentielle la plus élevée associée à la forme d’onde générée par l’émetteur du matériel à l’essai (MAE).

Zone du champ lointain : espace autour de l’antenne ou d’une autre structure rayonnante, où la distribution du champ angulaire commence à être essentiellement indépendante de la distance de l’antenne. Dans cette zone, le champ a surtout un caractère d’onde plane. Veuillez vous référer à l’annexe A de la NT-261, Modèle d’évaluation de l'exposition aux champs de radiofréquences selon le Code de sécurité 6 (CS6) (environnements non contrôlés) pour obtenir plus de détails sur les régions des champs d’antenne.

Zone du champ proche réactif : sous-zone de la zone du champ proche d’une antenne ou d’une autre structure rayonnante dans laquelle les champs évanescents sont dominants. La zone du champ proche réactif s’étend sur une distance d’au moins \( \lambda / 2\pi \) à partir de l’antenne, où \( \lambda \) correspond à la longueur d’onde en mètres. Veuillez vous référer à l’annexe A de la NT-261 pour obtenir plus de détails sur les régions des champs d’antenne.

Zone du champ proche : volume d’espace autour de l’antenne ou d’une autre structure rayonnante, où les champs électrique et magnétique n’ont pas foncièrement un caractère d’onde plane, mais varient considérablement d’un point à l’autre à la même distance de la source. Veuillez vous référer à l’annexe A de la NT-261 pour obtenir plus de détails sur les régions des champs d’antenne.

4.2 Abréviations et acronymes

Le présent document utilise les abréviations et les acronymes suivants : 

DAS
Débit d’absorption spécifique
ES
Ensemble au sol
EBV
Ensemble à bord du véhicule
SEA
Système électronique de surveillance d'articles
FDTD
Différences finies dans le domaine temporel
FEM
Méthode ou modèle des éléments finis
FIT
Technique d’intégration finie
IRF
Identification par radiofréquence
ISDE
Innovation, Sciences et Développement économique Canada
ISM
Matériel industriel, scientifique et médical
LBO
Largeur de bande occupée
LBR
Largeur de bande de résolution
MAE
Matériel à l’essai
RET
Ratio d’exposition total
RF
Radiofréquence
RMS
Valeur moyenne quadratique (valeur efficace)
SN
Stimulation des nerfs
TASF
Transfert d’alimentation sans fil
TFR
Transformation de Fourier rapide
VE
Véhicule électrique

4.3 Grandeurs

Le tableau 1 indique les grandeurs utilisées dans le présent document ainsi que les unités correspondantes du Système international d’unités adopté à l’échelle internationale.

Tableau 1 : Grandeurs et constante
Grandeur Symbole Unité
Densité de champ magnétique B tesla (T)
Intensité de champ électrique E volt par mètre (V/m)
Fréquence f hertz (Hz)
Intensité de champ magnétique H ampère par mètre (A/m)
Débit d’absorption spécifique DAS watt par kilogramme (W/kg)
Longueur d’onde \( \lambda \) mètre (m)
Perméabilité de l’espace libre \( \mu_0 \) \( 4 \cdot \pi \times 10^{-7} (H/m) \)
 

5. Exigences générales relatives à l’évaluation de la conformité du MAE fonctionnant dans la gamme de 3 kHz à 10 MHz

La présente section définit les exigences générales pour l’évaluation de la conformité du MAE fonctionnant dans la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz.

5.1 Limites d’exposition, cas d’utilisation et conditions d’exposition

Les appareils de radiocommunication doivent respecter les limites mentionnées dans le Code de sécurité 6 de Santé Canada, qui ont été adoptées dans le CNR-102. Les dispositifs TASF sources de type 1, considérés comme du matériel brouilleur, plus précisément le matériel ISM, doivent également respecter les limites mentionnées dans le Code de sécurité 6 de Santé Canada. Pour les émissions RF dans la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz, il faut démontrer la conformité des appareils aux limites visant à prévenir la SN. Les limites comprennent les restrictions de base pour l’intensité du champ électrique interne (champ E interne) et les niveaux de référence d’intensité de champs électrique et magnétique incidents (champ E et champ H) qui sont fondés sur la SN.

Au-delà de 100 kHz, il faut aussi démontrer la conformité des appareils aux limites visant à prévenir les effets thermiques. Dans la gamme de fréquences de 100 kHz à 10 MHz, ces limites comprennent les restrictions de base pour le débit d’absorption spécifique (DAS) et les niveaux de référence fondés sur le DAS. Si un MAE produit des émissions RF supérieures à 10 MHz, l’exposition à ces émissions doit être évaluée conformément au CNR-102 et intégrée à l’évaluation de conformité globale.

Les cas d’utilisation et les configurations de fonctionnement doivent être énoncés et décrits. La façon dont le MAE réagirait à toute interaction prévisible avec l’utilisateur ou une autre personne doit être clairement définie. Les principales conditions d’exposition aux RF doivent être définies à l’aide de ces renseignements. L’objectif de l’évaluation de l’exposition est de démontrer la conformité aux limites applicables pour chaque condition d’exposition.

5.2 Distance de séparation

La distance de séparation correspond à la distance minimale entre le MAE et la surface la plus proche de la région d’exposition d’un utilisateur ou d’une autre personne, c.-à-d. la zone dans laquelle l’exposition aux RF est évaluée. Elle repose sur les principales conditions d’exposition aux RF mentionnées à la section 5.1 et la nature des limites d’exposition étudiées. Les limites visant à prévenir la SN sont fondées sur l’exposition instantanée, tandis que celles visant à prévenir les effets thermiques sont basées sur l’exposition moyenne pendant n’importe quelle période de six minutes. Par conséquent, les distances de séparation fondées sur la SN peuvent être différentes de celles fondées sur le DAS.

Chaque distance de séparation appliquée lors d’une évaluation doit être clairement précisée dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF, y compris le type d’exposition aux RF associée (SN ou DAS). De plus, la distance de séparation minimale pour prévenir la SN et les effets thermiques doit être indiquée dans le guide d’utilisation afin de garantir une installation et une utilisation sécuritaires du MAE.

5.2.1 Évaluations fondées sur la SN

Lors d’une évaluation en fonction des limites fondées sur la SN, la distance de séparation doit correspondre à la distance la plus courte pouvant être raisonnablement maintenue en tout temps entre l’utilisateur ou une autre personne et le MAE pendant le fonctionnement de ce dernier. Si l’utilisateur interagit directement avec le MAE, comme lorsqu’il s’agit d’un appareil portatif ou d’un chargeur sans fil, l’évaluation doit être menée à la position de contact (0 mm).

Une plus grande distance de séparation peut être envisagée lorsque le MAE est hors de portée de tout personnel non formé ou si des mesures particulières ont été prises pour éviter l’interaction directe de l’utilisateur pendant le fonctionnement du MAE. Dans de tels cas, une demande doit être envoyée à ISDE avec une justification claire et suffisante de la distance de séparation choisie.

5.2.2 Évaluations fondées sur le DAS

Lors d’une évaluation en fonction des limites fondées sur le DAS, la distance de séparation doit être conforme aux exigences du CNR-102. Sinon, le demandeur doit soumettre une demande à ISDE et fournir une justification pour une distance de séparation proposée prudente, basée sur une exposition moyenne de six minutes.

5.3 Laboratoires d’essais reconnus

Les évaluations de la conformité fondées sur les exigences énoncées dans la présente doivent être effectuées par un laboratoire d’essais reconnu par ISDE ayant au moins une des portées de reconnaissance suivantes : CNR-102 (NS)MES (pour effectuer une évaluation au moyen des mesures) ou CNR-102 (NS)SIM (pour effectuer une évaluation au moyen des simulations).

De même, toute évaluation du DAS nécessite au moins l'une des portée de reconnaissance suivantes : CNR-102 (DAS)MES (pour effectuer une évaluation du DAS au moyen des mesures) ou CNR-102 (DAS)SIM (pour effectuer une évaluation du DAS au moyen des simulations).

La liste de ces laboratoires se trouve à la page des laboratoires d'essais des appareils sans fils de notre site Web.

5.4 Description des fonctions du MAE

La présente section décrit les exigences relatives à la description des fonctions du MAE qui doivent être incluses le cas échéant (en particulier, lorsqu'une évaluation informatique est utilisée).

5.4.1 Description des fonctions

La nature, l’utilisation prévue et le principe de fonctionnement du MAE doivent être décrits.

5.4.2 Antennes

Une description de chaque antenne, c.-à-d. de chaque élément de couplage ou de rayonnement, se trouvant dans le MAE doit être fournie. Le cas échéant, les éléments suivants doivent être fournis : 

  • le nombre d’éléments d’antenne;
  • le type d’élément, p. ex., antenne doublet, boucle/bobine, etc.;
  • l’impédance d’entrée, l’inductance ou la capacité de chaque élément, s’il y a lieu;
  • la ou les méthodes de blindage ou de mise en forme des champs;
  • toutes les dimensions pertinentes, y compris les emplacements à l’intérieur du MAE, et les distances jusqu’aux surfaces externes des enceintes;
  • toutes les propriétés des matériaux pertinentes, y compris celles des enceintes;
  • tout autre détail pertinent, p. ex., le nombre de spires d’une bobine donnée.
 
5.4.3 Formes d’onde d’émission

Les formes d’onde générées par chaque émetteur au sein du MAE doivent être décrites. Les principaux détails à inclure sont : 

  • les formes de l’onde de la bande de base, de l’onde porteuse ou de l’onde d’impulsion (de base), p. ex., sinusoïdale, triangulaire ou rectangulaire;
  • la fréquence fondamentale, porteuse ou de répétition des impulsions associée;
  • le facteur d’utilisation des formes d’onde d’impulsion.
 

Si plusieurs fréquences fondamentales, porteuses ou de répétition des impulsions sont utilisées simultanément, les détails ci-dessus doivent être fournis pour chaque fréquence. Par contre, si les fréquences fondamentales, porteuses et de répétition des impulsions varient au fil du temps, la gamme de fréquences correspondante doit être précisée, et la relation entre la fréquence à un moment donné et le ou les facteurs dont elle dépend, comme l’état de fonctionnement, doit être décrite.

5.4.4 États de fonctionnement

Le comportement du MAE dans chaque état de fonctionnement (démarrage, attente, etc.) doit être décrit. Les conditions nécessaires pour déclencher une transition d’état et les synchronisations associées sont particulièrement importantes.

5.4.5 Puissance d’émission par conduction ou niveau d’excitation

La puissance d’émission par conduction ou le niveau d’excitation (courant ou tension) appliqués à chaque antenne doivent être décrits en fonction de l’état de fonctionnement et du cas d’utilisation. Au minimum, les valeurs nominales et maximales doivent être fournies.

5.5 Méthodes d’évaluation

La présente section résume les méthodes d’évaluation de l’exposition aux RF provenant des émissions produites par le MAE dans une gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz.

5.5.1 Généralités

La hiérarchie des méthodes d’évaluation est illustrée à la figure 1. Des directives au sujet de chaque méthode d’évaluation sont fournies dans les sous-sections ci-dessous.

Figure 1 : Hiérarchie des méthodes d’évaluation

Hiérarchie des méthodes d’évaluation (la description détaillée se trouve sous l'image)
Description de la figure 1

Représentation de la hiérarchie d'évaluation divisée en deux catégories codées par couleur, bleu : restrictions de base et vert : niveaux de référence. Les restrictions de base se situent au-dessus des niveaux de référence dans la hiérarchie. Chaque catégorie contient des restrictions basées sur la mesure et des restrictions basées sur les simulations, ces dernières étant plus basses dans la hiérarchie.

 
5.5.2 Restrictions de base

La présente sous-section précise les exigences liées aux évaluations en fonction des restrictions de base. Lorsque possible, les évaluations en fonction des restrictions de base sont à privilégier, en particulier dans la zone du champ proche réactif de l’antenne émettrice, car c’est là que devrait se situer la région d’exposition aux fréquences inférieures à 10 MHz. Il est permis d’effectuer une évaluation basée sur les niveaux de référence lorsqu’une évaluation en fonction des restrictions de base n’est pas réalisable ou pratique. Dans ces situations, les niveaux de référence deviennent les niveaux à ne pas dépasser.

5.5.2.1 Exigences générales

Pour un MAE, une condition d’exposition aux RF et une distance de séparation correspondante donnés, le DAS et les niveaux de champ E interne induits dans le corps ne doivent pas dépasser les restrictions de base applicables.

5.5.2.2 Évaluations basées sur des mesures

La mesure directe du DAS et du champ E interne induit dans un fantôme équivalent au tissu représentatif à la distance de séparation correspondante est la méthode d’évaluation privilégiée. Cependant, il n’est pas toujours possible d’utiliser cette méthode en raison de contraintes physiques, de la disponibilité d’équipement d’essai approprié, de définitions de fantôme équivalent au tissu ou de procédures d’évaluation prudentes.

Les exigences concernant les évaluations basées sur des mesures sont présentées à la section 6.

5.5.2.3 Évaluations informatiques

Lorsque les contraintes pratiques liées à l’équipement d’essai ou au fantôme équivalent au tissu empêchent de procéder à une évaluation basée sur des mesures, une évaluation informatique en fonction des restrictions de base peut être effectuée.

Les méthodes d’évaluations informatiques sont décrites à la section 8.

5.5.3 Niveaux de référence

La présente sous-section précise les exigences liées aux évaluations en fonction des niveaux de référence. Les niveaux de références offrent un moyen d’évaluer l’exposition en fonction des intensités de champ incident plutôt qu’en fonction des grandeurs induites. Ils permettent d’éliminer bon nombre des contraintes pratiques associées aux évaluations en fonction des restrictions de base : les champs E et H produits par le MAE sont évalués dans l’espace libre, à la distance de séparation correspondante.

5.5.3.1 Exigences générales

Pour un MAE, une condition d'exposition RF et une distance de séparation donnée, les niveaux de référence NS et SAR ne doivent pas être dépassés. Par contre, si les niveaux de référence NS et SAR sont dépassés, une évaluation par rapport aux restrictions de base doit être effectuée pour le MAE.

5.5.3.2 Évaluations basées sur des mesures

Sous réserve que des sondes de champ et de l’équipement d’essai appropriés soient disponibles, la mesure des intensités de champ incident est la méthode à privilégier pour l’évaluation en fonction des niveaux de référence.

Les exigences au sujet des évaluations basées sur des mesures en fonction des niveaux de référence se trouvent à la section 7.

5.5.3.3 Évaluations informatiques

Lorsqu’il n’est pas possible de procéder à la mesure du champ incident, que ce soit en raison de contraintes physiques ou de la disponibilité de sondes de champ et d’équipement d’essai appropriés, les niveaux de champ peuvent être évalués par ordinateur.

Les méthodes d’évaluations informatiques sont décrites à la section 8.

5.5.3.4 Considérations particulières pour l’exposition du corps entier

Les niveaux de référence précisés dans le CNR-102 reposent sur des champs incidents qui sont uniformes sur tout le volume du corps humain. Dans le contexte d’une exposition aux RF provenant d’un MAE, une exposition du corps entier peut survenir lorsque certaines distances de séparation et dimensions de l’antenne source sont combinées. C’est notamment le cas lorsqu’au moins une de ces deux valeurs est équivalente ou supérieure à la taille du corps humain. Bien qu’on suppose que le corps entier est exposé, les champs incidents peuvent ne pas être uniformes sur le plan spatial, et comparer les maximums spatiaux aux niveaux de référence correspondants pourrait s’avérer trop prudent.

Le calcul de la moyenne spatiale peut être appliqué lors des évaluations de l’exposition du corps entier en fonction des niveaux de référence conformément à l’annexe B, sous réserve que les conditions suivantes soient respectées : 

  1. une évaluation en fonction des restrictions de base n’est pas réalisable;
  2. lors d’une évaluation fondée sur des mesures, les niveaux de champ se trouvent de façon constante et mesurable dans la plage de sensibilité de la sonde de champ utilisée à tous les emplacements et à toutes les fréquences de calcul de la moyenne spatiale (les exigences de sensibilité de la sonde sont définies à la section 7.1.6.1);
  3. le ratio d’exposition maximal observé à tous les emplacements de calcul de la moyenne spatiale ne dépasse pas deux fois le ratio d’exposition moyenné dans l’espace (les procédures d’évaluation des ratios d’exposition lors des évaluations basées sur des mesures en fonction des niveaux de référence sont présentées à la section 7.2);
  4. la justification et la procédure sont bien documentées dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.
 
5.5.3.5 Considérations particulières pour l’exposition locale

Il est possible que l’exposition soit locale, par exemple lorsque la distance de séparation et les dimensions de l’antenne source sont faibles par rapport au corps humain. Cela peut aussi être le cas lorsque les champs produits par le MAE se limitent surtout à une zone qui est inaccessible au corps entier. Dans les cas où l’exposition touche principalement les membres, comparer l’intensité de champ la plus élevée observée au niveau de référence peut s’avérer trop prudent. C’est particulièrement le cas pour les niveaux de référence pour le champ H, car la conversion du champ H incident en champ E interne dépend de la taille de la région exposée.

Les niveaux de référence assouplis pour le champ H fournis dans le tableau 2 peuvent être appliqués lors des évaluations de l’exposition locale, sous réserve que les conditions suivantes soient respectées : 

  1. une évaluation en fonction des restrictions de base n’est pas réalisable;
  2. aucun calcul de la moyenne spatiale n’est appliqué;
  3. la justification et la procédure sont bien documentées dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.
 

Lors de l'utilisation des niveaux de référence du champ H assoupli pour l'exposition des membres, la conformité doit également être démontrée au niveau de la tête et du torse sans assouplissement, c.-à-d. avec un facteur d’assouplissement de 1,0 conformément au tableau 2. Veuillez consulter l’annexe E pour voir des exemples de mise en œuvre pour différents types de dispositifs.

Tableau 2 : Assouplissement du niveau de référence du champ H pour l’exposition locale
Région d’exposition Facteur d’assouplissement Champ H fondé sur la SN (A/m RMS)
Tête/torse 1,0 90
Jambe 1,5 135
Bras 2,5 225
Main/pied 5,0 450
 

6. Évaluations fondées sur des mesures en fonction des restrictions de base

La présente section fournit des directives au sujet des évaluations fondées sur des mesures en fonction des restrictions de base applicables au DAS et au champ E interne dans la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz.

6.1 DAS

Les niveaux de DAS induits par les émissions dans la gamme de fréquences de 4 MHz à 6 GHz doivent être mesurés conformément au CNR-102.

6.2 Champ E interne

ISDE fournira des directives pour les évaluations basées sur des mesures en fonction des restrictions de base pour le champ E interne dans une prochaine édition de la PRS-002.

En attendant ces directives, les demandeurs qui souhaitent effectuer une évaluation fondée sur des mesures en fonction des restrictions de base pour le champ E interne doivent soumettre une demande à ISDE, dans laquelle ils proposent une approche prudente et précise pour l’évaluation.

7. Évaluations fondées sur des mesures en fonction des niveaux de référence

La présente section décrit les exigences relatives aux évaluations basées sur des mesures en fonction des niveaux de référence dans la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz.

7.1 Configuration de l’essai

La présente section précise les exigences relatives à la configuration de l’essai.

7.1.1 Aperçu

La figure 2 illustre la configuration d’essai typique pour la mesure du champ incident. La sonde de champ utilisée pour effectuer les mesures consiste principalement en une ou plusieurs antennes de sonde et un récepteur de mesure. Les champs générés par le MAE déclenchent une réponse dans la ou les antennes de la sonde, et cette réponse est traitée par le récepteur de mesure et convertie en estimation de la mesure d’exposition désirée. Dans de nombreux cas, les antennes de sonde et le récepteur de mesure sont intégrés dans un même dispositif, et peuvent même partager la même enceinte. Il arrive aussi que le récepteur de mesure soit utilisé avec différentes antennes de sonde détachables. Dans tous les cas, le récepteur doit présenter une impédance adéquate pour chaque antenne et être en mesure de convertir précisément la grandeur détectée, à savoir la tension ou le courant, en intensité de champ mesurée, c.-à-d. en champ E ou H, dans toute la gamme de fréquences visée par l’évaluation.

Figure 2 : llustration de la mesure d’un champ incident typique

llustration de la mesure d’un champ incident typique (la description détaillée se trouve sous l'image)
Description de la figure 2

Deux boucles de fil circulaire qui forment les antennes de la sonde et du MAE, avec des diamètres Dp et Ds respectivement. Les deux antennes sont entourées des enceintes rondes qui sont séparées par Denc. Dmes est la distance entre l'enceinte du MAE et le centre de l'antenne de la sonde. De plus, un dispositif récepteur de mesure est fixé à la sonde.

 

La distance correspondant à une mesure de champ donnée, notée par \(d_{mes}\) dans la figure 2 correspond à la distance entre l’enceinte du MAE et l’emplacement de mesure associé aux antennes de la sonde, c.-à-d. l’endroit précis correspondant à la mesure du champ. Si cet emplacement n’est pas indiqué par le fabricant de la sonde, le centre géométrique des antennes de la sonde, ou de l’enceinte correspondante, peut être utilisé.

La distance de l'enceinte, désignée par \(d_{enc}\) dans la figure 2, est la distance entre le MAE et la surface la plus proche de l'enceinte de la sonde de champ.

En revanche, la distance de séparation \(d_{sép}\) est la distance minimale entre le MAE et la surface la plus proche de la région d’exposition c.-à-d. la région sur laquelle l’exposition RF doit être évaluée. Elle est basée sur la condition et la limite d'exposition RF considérées. Les limites visant à prévenir la SN sont basées sur une exposition instantanée, tandis que celles visant à prévenir les effets thermiques sont basées sur une exposition moyenne sur une période de 6 minutes. Par conséquent, les distances de séparation basées sur le SN et le DAS peuvent être différentes. Par exemple, si l'utilisateur interagit directement avec le MAE, par exemple des appareils portables ou des chargeurs sans fil, une évaluation par rapport aux limites basées sur la SN doit être effectuée à la position du toucher, c'est-à-dire à une distance de \(d_{sep}=0\) mm, indépendamment du fait que le MAE puisse être considéré comme un appareil de table ou pas.

Idéalement, les mesures du champ incident seraient effectuées à la distance de séparation correspondante, soit \(d_{mes} = d_{sép}\). Cependant, cela n'est pas toujours possible en raison des effets de moyenne spatiale (voir section 7.1.7) et de contraintes physiques. Dans de tels cas, une évaluation informatique selon la section 8 peut être effectuée. Il est aussi possible de se servir des techniques d'ajustement de courbe pour estimer la ou les valeurs de champ à dsep sur la base de mesures effectuées à des distances plus grandes, à condition qu’une erreur d’estimation acceptable puisse être démontrée, ce qui nécessite la soumission d’une demande à ISDE.

La distance la plus courte entre l’antenne de la sonde et celle du MAE, désignée par \(d_{mes}\) dans la figure 2, est proportionnelle aux exigences de taille d’antenne de la sonde mentionnées à la section 7.1.7.

7.1.2 Environnement

Dans la mesure du possible, l'évaluation doit être effectuée dans un environnement de laboratoire contrôlé. Les tables et les appareils de montage des sondes de mesure doivent être transparents aux RF et leur construction doit être exempte de matériaux métalliques. Le volume et la forme du champ électromagnétique (influencés par la puissance de sortie du MAE et la taille du radiateur) doivent être pris en considération en utilisant les meilleures pratiques d'ingénierie pour déterminer le dégagement approprié requis pour minimiser l'influence des matériaux métalliques à proximité du MAE.

De plus, l’environnement d’essai doit être une zone ouverte ne contenant pas d’objets métalliques qui pourraient avoir une incidence sur les mesures. De plus, il doit être exempt de signaux ambiants dans les plages de fréquence et de sensibilité de la ou des sondes de mesures. Si nécessaire, ces signaux peuvent être mesurés et retirés des résultats, à condition que cela soit clairement documenté dans le mémoire technique sur l'exposition aux RF.

Si la nature du MAE est telle que les mesures en laboratoire ne sont pas réalisables ou pratiques, par exemple pour un système de surveillance électronique des articles, l’évaluation doit être effectuée in situ sur au moins trois installations représentatives.

7.1.3 Grandeurs déclarées

Dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF, les valeurs du champ E doivent être rapportées en V/m et celles du champ H en A/m.

Remarque : Pour l’espace libre et les canaux non magnétiques, comme l’air, l’intensité de champ magnétique (H) est liée à la densité de champ magnétique (B) par la perméabilité de l’espace libre ( \(\mu_{0}\) ) comme suit : 

\[ H=\frac{B}{\mu_{0}} \]

(1)

 
7.1.4 Évaluations dans le domaine fréquentiel ou le domaine temporel

Les récepteurs de mesure peuvent fonctionner principalement dans le domaine fréquentiel (p. ex., analyse du spectre), ou dans le domaine temporel (comme un oscilloscope). Les évaluations dans le domaine fréquentiel sont moins complexes, en particulier pour le DAS, car les niveaux de référence dépendent des fréquences. Toutefois, les évaluations dans le domaine fréquentiel ne sont pas toujours appropriées.

Si les émissions du MAE sont composées de porteuses non modulées, comme des ondes sinusoïdales périodiques, des trains d’impulsion, etc., une évaluation dans le domaine fréquentiel peut être effectuée. Cette directive peut aussi s’appliquer aux émissions composées de porteuses modulées à bande étroite, sous réserve que la largeur de bande de résolution (LBR) utilisée à chaque fréquence de mesure dépasse la largeur de bande occupée (LBO) de l’émission à cette fréquence. Dans le contexte de la PRS-002, la modulation est considérée comme à bande étroite si la LBO est inférieure à 1 % de la fréquence porteuse. À une fréquence donnée, les récepteurs de mesure fonctionnant principalement dans le domaine fréquentiel doivent utiliser une largeur de bande étroite comprise entre 1 et 10 % de la fréquence porteuse. En outre, ils doivent être capables d'exécuter des fonctions statistiques comme la moyenne et le maintien au maximum à chaque composante fréquentielle, et doivent être configurés pour utiliser un détecteur de crête afin d'afficher les niveaux RMS équivalents des signaux.

Pour toutes les autres émissions du MAE, comme celles modulées à large bande ou apériodiques, une évaluation dans le domaine temporel doit être effectuée. Les récepteurs de mesure fonctionnant principalement dans le domaine temporel doivent échantillonner les signaux de mesure du champ à un débit suffisamment élevé pour éviter un repliement de spectre ou des effets de recouvrement du spectre, c.-à-d. que les fréquences échantillonnées doivent être supérieures au double de la fréquence la plus élevée associée à l’évaluation.

7.1.5 Gamme de fréquences de l’évaluation

L’évaluation doit couvrir toute la gamme de fréquences de la limite d’exposition correspondante : 

  • 3 kHz à 10 MHz pour les niveaux de référence fondés sur la SN des champs E et H;
  • 100 kHz à 10 MHz pour le niveau de référence fondé sur le DAS du champ H;
  • 1,10 à 10 MHz ou 1,29 à 10 MHz pour le niveau de référence fondé sur le DAS du champ E dans les environnements non contrôlés et contrôlés, respectivement.

Pour les émissions du MAE qui respectent les exigences des évaluations dans le domaine fréquentiel mentionnées à la section 7.1.4, plusieurs configurations d’équipement peuvent être utilisées pour couvrir toute la gamme de fréquences d’une limite d’exposition donnée. Cette information doit se trouver dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

Une gamme de fréquences réduite peut être autorisée pour une évaluation, à condition que le MAE ne produise pas : 

  1. de composantes de fréquence dont les émissions sont inférieures de 20 dB au niveau maximal identifié sur la gamme de fréquences de 3 kHz à 10 MHz ; ou
  2. d’émissions dépassant les niveaux de sensibilité de la sonde spécifiés dans 7.1.6.1 en dehors de cette plage.

Cela doit être démontré par des mesures préliminaires à l’aide d’une sonde de champ qui convient à toute la gamme de fréquences de la limite d’exposition étudiée et qui répond aux exigences mentionnées aux sections 7.1.6.1, 7.1.6.2, 7.1.6.3 et 7.1.7.2. Les tracés spectraux qui en découlent doivent être inclus dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

7.1.6 Exigences relatives aux sondes

Cette section spécifie les exigences applicables à la sonde.

Les données d'étalonnage provenant d'un laboratoire d'étalonnage accrédité pour les sous sections suivantes doivent être fournies dans le mémoire technique sur l'exposition aux RF.

7.1.6.1 Sensibilité de la sonde

Les sondes de champ doivent répondre aux exigences de sensibilité suivantes sur toute la gamme de fréquences de l’évaluation : 

  • ≤ 1 V/m pour les mesures du champ E;
  • ≤ 1 A/m pour les mesures du champ H en fonction du niveau de référence fondé sur la SN;
  • \( \leq 0,1/ f_{MHz} A/m \) pour les mesures du champ H en fonction du niveau de référence fondé sur le DAS, où fMHz est la fréquence de mesure en MHz.
 
7.1.6.2 Réponse de la sonde

La sonde de champ doit prévoir une planéité de l’amplitude de 1 dB ou moins sur toute la gamme de fréquences de l’évaluation. Aucun facteur de pondération de l’amplitude dépendant de la fréquence ne doit être appliqué aux résultats de mesure.

7.1.6.3 Plage linéaire et erreur de linéarité de la sonde

La sonde de champ doit prévoir une plage linéaire allant d’au moins -10 dB à 5 dB en fonction du niveau de référence associé à l’évaluation, avec une erreur de linéarité de ±0,5 dB.

7.1.7 Exigences relatives à l’antenne de la sonde

La présente section précise les exigences relatives à l’antenne qui se trouve dans la sonde de champ.

La plupart des évaluations de l’exposition aux RF sous 10 MHz sont effectuées dans la zone du champ proche réactif des antennes du MAE. Les variations spatiales de la magnitude et de la polarisation des champs E et H peuvent être importantes dans cette zone et, par conséquent, il faut être prudent au moment de choisir une antenne de sonde appropriée. En plus des exigences mentionnées dans les sous-sections ci-dessous, les sondes de champ utilisées pour les évaluations dans la zone du champ proche réactif doivent disposer d’antennes conçues et prévues pour la mesure du champ proche.

7.1.7.1 Taille d’antenne

 

En raison de la taille limitée des antennes de sonde, toutes les mesures de champ feront l’objet, à un degré relatif, de calculs de la moyenne spatiale. Dans l’exemple d’une antenne-cadre, l’emplacement de mesure peut être défini comme le centre géométrique de la boucle, mais le résultat correspondra à une fonction du champ H moyen passant par l’ouverture de la boucle. Un effet de moyenne du champ E similaire se produit avec les antennes filaires.

L'antenne de la sonde doit être suffisamment petite afin de s’assurer que la sonde de champ peut détecter avec précision la crête spatiale d’une composante de champ donnée. En se référant aux grandeurs illustrées à la figure 2, la condition suivante doit être respectée : 

\[ d_{mes} \geq 1,7D_{p} \]

(2)

 

Si la dimension linéaire maximale de l'antenne de la sonde (Dp) est inconnue, la dimension maximale de l'enceinte doit être utilisée. Il est possible de déroger à cette exigence si l'une des conditions suivantes est remplie : 

  1. Dp ≤ 0,1Ds où Ds est la dimension linéaire maximale de la plus grande antenne active du MAE (la dimension maximale du boîtier du MAE ne doit pas être utilisée)
  2. La surface métallique la plus proche (à l'exclusion de l'antenne source et de l'électronique qui l'accompagne) se trouve à plus de 1,7Dp du point de mesure du champ, par exemple le centre géométrique de l'antenne ou des antennes de la sonde.

Exemple : La plus petite antenne du MAE donnée a une dimension maximale de 40 mm. Cela correspondrait à la longueur d'une antenne dipôle ou au diamètre d'une antenne cadre circulaire. La dimension maximale de l'antenne de la sonde est de 12 mm. Par conséquent, les mesures du champ incident ne peuvent être effectuées qu'à des distances d'au moins 20 mm (dmes ≥ 20 mm).

7.1.7.2 Isotropie

Les niveaux de référence sont définis en fonction de la grandeur vectorielle du champ incident. Par conséquent, les mesures de champ doivent être effectuées pour trois axes orthogonaux, désignés par x, y et z pour des raisons pratiques, afin de permettre le calcul de la grandeur vectorielle.

Pour les émissions du MAE nécessitant une évaluation dans le domaine temporel conformément à la section 7.1.4, il est recommandé que les composantes x, y et z soient détectées simultanément par le récepteur de mesure. Pour ce faire, il faut utiliser une antenne de sonde isotrope triaxiale avec un écart de 1 dB ou moins par rapport à l’isotropie.

Lors de mesures dans la zone du champ proche réactif, les éléments individuels de l’antenne de la sonde triaxiale doivent avoir les mêmes centres de mesure, par exemple une sonde triaxiale de champ H composée de trois boucles concentriques. Si la distance maximale séparant les emplacements de mesure de deux éléments dépasse Dp/20, où Dp est la dimension maximale de l’antenne de la sonde, l’antenne de la sonde ne doit pas être considérée comme isotrope dans la zone du champ proche réactif.

Pour les émissions du MAE qui répondent aux exigences des évaluations dans le domaine fréquentiel définies dans la section 7.1.4, chaque composante de champ doit être mesurée de façon séquentielle, à condition de respecter les exigences de positionnement de l’antenne correspondantes mentionnées dans la section 7.1.7.3.

7.1.7.3 Positionnement de l’antenne

Le dispositif de positionnement de la sonde de champ doit permettre le mouvement et l’orientation des antennes de la sonde de manière à ce que les niveaux de champ maximaux produits par le MAE puissent être mesurés de façon précise et reproductible à la distance de séparation correspondante. Pour ce faire, il est nécessaire d’aligner les centres de mesure des antennes de la sonde avec les emplacements d’exposition maximale sur la surface d’évaluation. La configuration de mesure et le dispositif de positionnement doivent permettre le balayage des centres de mesure des antennes de la sonde sur la surface d’évaluation, dans toutes les directions par rapport au centre géométrique du MAE, sans obstruction.

Exemple :  Lors de l’évaluation d’un appareil sur table, l’enceinte de l’antenne de la sonde ne devrait pas reposer sur la table ou la surface sur laquelle le MAE est posé, ni sur toute autre surface de même hauteur, et elle ne doit pas non plus être obstruée par une telle surface, car cela empêcherait le balayage vertical des centres de mesure des antennes de la sonde à la hauteur ou en dessous de la hauteur du centre géométrique du MAE.

Lors de la mesure séquentielle des composantes de champ x, y et z afin de déterminer la grandeur vectorielle du champ dans le cadre d’une évaluation dans le domaine fréquentiel (voir la section 7.1.7.2), le dispositif de positionnement doit permettre la rotation de l’antenne de la sonde de façon à ce que chaque composante de champ puisse être mesurée de manière précise et reproductible au même emplacement sur la surface d’évaluation. Les résultats obtenus grâce aux mesures séquentielles doivent être équivalents à ceux obtenus avec une antenne de sonde isotrope triaxiale avec un écart de 1 dB ou moins par rapport à l’isotropie. Si les mesures sont effectuées dans la zone du champ proche réactif, le dispositif de positionnement doit être en mesure d’orienter les antennes de la sonde de façon répétée afin que la distance maximale entre deux mesures de composantes de champ ne dépasse pas Dp/20.

7.2 Procédure de mesure

La présente section définit les exigences relatives à la procédure de mesure.

7.2.1. Exigences générales relatives à la procédure de mesure

Les mesures doivent être effectuées conformément aux directives suivantes pour les niveaux de champ E et H. Les calculs visant à déduire l’une des valeurs en se basant sur l’autre ne seront pas acceptés.

Pour une condition d’exposition donnée, l’espace accessible à l’utilisateur autour du MAE doit être considéré comme étant à la distance de séparation correspondante. Lorsque possible, tous les émetteurs capables de fonctionner simultanément doivent être actifs pendant l’évaluation; autrement, les contributions à l’exposition de chaque émetteur, ou d’une combinaison d’émetteurs, doivent être évaluées et réunies conformément à la section 9. Des photographies montrant l’environnement d’essai dans son ensemble, en particulier pour les configurations produisant l’exposition la plus élevée, doivent être fournies.

Des mesures de balayage préliminaires doivent être effectuées afin de déterminer les emplacements d’exposition maximale, c.-à-d. les endroits où les niveaux de champ E et H sont les plus élevés, sur les surfaces d’évaluation associées à chaque côté du MAE accessible à l’utilisateur. Au moins une mesure des champs E et H dans le pire des cas doit être effectuée pour chaque côté du MAE accessible à l’utilisateur.

Si le MAE se sert de fréquences fondamentales, porteuses ou de répétition des impulsions qui peuvent varier au fil du temps, l’évaluation doit mesurer le pire cas d’exposition découlant de toutes les combinaisons possibles de fréquence et de niveau d’excitation.

7.2.2 Évaluations dans le domaine fréquentiel

La présente section s’applique aux évaluations dans le domaine fréquentiel.

7.2.2.1 Exigences générales relatives aux évaluations dans le domaine

Conformément à la section 7.1.4, l’évaluation peut être effectuée dans le domaine fréquentiel si les formes d’onde d’émission sont composées de porteuses périodiques non modulées ou modulées à bande étroite. On suppose que le récepteur de mesure calcule ou affiche le niveau équivalent RMS (à l’aide d’un détecteur de crête) associé à chaque composante fréquentielle; autrement, les valeurs doivent être proportionnées adéquatement.

La grandeur vectorielle de la valeur RMS du champ E, désignée par E(f), peut être exprimée comme suit :

\[ E(f) = \sqrt{[E_{x}(f)]^{2}+[E_{y}(f)]^{2}+[E_{z}(f)]^{2}} \]

(3)

 

Ex (f), Ey (f) et Ez (f) sont respectivement les composantes x, y et z du niveau équivalent RMS du champ E. Il en va de même pour le champ H :

\[ H(f) = \sqrt{[H_{x}(f)]^{2}+[H_{y}(f)]^{2}+[H_{z}(f)]^{2}} \]

(4)

 

Remarque : Comme il s’agit des valeurs RMS d’un signal largement périodique, les composantes n’ont pas à être mesurées simultanément; il est donc possible de procéder à des mesures sur un seul axe.

À une fréquence donnée, la LBR du récepteur de mesure doit se situer dans une plage allant de 1 à 10 % de cette fréquence.

7.2.2.2 Niveaux de référence fondés sur la SN

Les niveaux de référence (NR) fondés sur la SN s’appliquent aux valeurs RMS instantanées maximales des champs E et H. Lors de l’évaluation dans le domaine fréquentiel, la valeur RMS instantanée maximale peut être calculée de façon prudente en additionnant les valeurs RMS maximales associées à chaque composante fréquentielle de l’émission du MAE. Pour ce faire, le récepteur de mesure doit enregistrer ou afficher le spectre dans une configuration de maintien du maximum. L’intervalle de temps de mesure doit être d’au moins 1 seconde, et il doit permettre aux niveaux spectraux de converger.

Une fois que les niveaux spectraux ont convergé, les contributions de valeurs RMS peuvent être combinées. Afin de limiter les effets du bruit de mesure dans les résultats de l’évaluation, les composantes fréquentielles prises en compte dans la somme doivent être limitées à celles pour lesquelles les niveaux de champ dépassent les niveaux de sensibilité précisés à la section 7.1.6.1. Par conséquent, le ratio d’exposition (RE) fondé sur la SN associé au champ E incident, désigné par \( RE_{NRE-SN} \), peut être calculé comme suit :

\[ RE_{NRE-SN} = \frac{1}{E_{NR-SN}}\sum_{m=1}^{M}E(f_{m}) \]

(5)

 

où :

  • M est le nombre total de composantes fréquentielles pour lesquelles les niveaux de champ se trouvent dans la plage de sensibilité de la sonde;
  • fm est la fréquence de la m-ième composante;
  • \( E_{NR-SN} \) est le niveau de référence fondé sur la SN pour le champ E incident.

Il en va de même pour le champ H :

\[ RE_{NRH-SN} = \frac{1}{H_{NR-SN}}\sum_{m=1}^{M}H(f_{m}) \]

(6)

 
7.2.2.3 Niveaux de référence fondés sur le DAS

Les niveaux de référence fondés sur le DAS s’appliquent aux valeurs RMS maximales des champs E et H observées pendant toute période de six minutes. Par conséquent, l’incidence d’une moyenne de temps mobile de six minutes doit être prise en compte dans l’évaluation. Pour ce faire, il est possible d’appliquer un calcul de moyenne temporelle à chaque composante fréquentielle et de bien rendre le pire ratio d’exposition fondé sur le DAS ou, avec une justification suffisante, de se servir des facteurs d’échelle calculés en fonction de la nature des formes d’onde d’émission.

Supposons que \( E_{moy}(f) \) et \( H_{moy}(f) \) indiquent respectivement les valeurs RMS maximales des champs E et H moyennées dans le temps associées à chaque composante fréquentielle. Comme à la section 7.2.2.2, les composantes fréquentielles évaluées peuvent se limiter à celles pour lesquelles les niveaux de champ dépassent les niveaux de sensibilité correspondants indiqués à la section 7.1.6.1.

Lors du calcul du ratio d’exposition fondé sur le DAS, les contributions des champs E et H survenant à la même fréquence ne doivent pas être additionnées : seul le facteur contributif le plus élevé est pris en compte. Le ratio d’exposition fondé sur le DAS, désigné par \( RE_{NR-DAS} \), peut donc être exprimé comme suit :

\[ RE_{NR-DAS} = \sum_{m=1}^{M}\left\{\begin{matrix} (\frac{H_{moy}(f_{m})}{H_{NR-DAS}(f_{m})})^{2}, & f_{m} < f_{min,E} \\ max\begin{bmatrix} (\frac{H_{moy}(f_{m})}{H_{NR-DAS}(f_{m})})^{2}, & (\frac{E_{moy}(f_{m})}{E_{NR-DAS}(f_{m})})^{2} \end{bmatrix}, & f_{m} \geq f_{min,E} \end{matrix}\right. \]
 

(7)

 

où :

  • M est le nombre total de composantes fréquentielles pour lesquelles les niveaux de champ se trouvent dans la plage de sensibilité de la sonde;
  • fm est la fréquence de la m-ième composante;
  • HNR-DAS et ENR-DAS sont les niveaux de référence fondés sur le DAS des champs incidents E et H respectivement;
  • fmin,E est la fréquence minimale pour laquelle ENR-DAS est défini (voir la section 7.1.5)
 
7.2.3 Évaluations dans le domaine temporel

La présente section s’applique aux évaluations dans le domaine temporel.

7.2.3.1 Exigences générales relatives aux évaluations dans le domaine temporel

Lorsqu’une évaluation dans le domaine temporel est effectuée, les composantes x, y et z des champs E et H doivent être mesurées simultanément. Le récepteur de mesure doit échantillonner directement les signaux RF associés, et les étapes de traitement et de détection suivantes sont effectuées par ordinateur. En d’autres mots, le récepteur de mesure doit produire ou afficher les valeurs de champ instantanées au lieu de l’enveloppe ou des valeurs RMS associées à une composante fréquentielle donnée. La grandeur vectorielle du champ E instantané, indiqué par E(t), peut être exprimée comme suit :

\[ E(t) = \sqrt{[E_{x}(t)]^{2}+[E_{y}(t)]^{2}+[E_{z}(t)]^{2}} \]

(8)

 

Ex (t), Ey (t) et Ez (t) sont respectivement les composantes x, y et z du champ E instantané. Il en va de même pour le champ H :

\[ H(t) = \sqrt{[H_{x}(t)]^{2}+[H_{y}(t)]^{2}+[H_{z}(t)]^{2}} \]

(9)

 
7.2.3.2 Niveaux de référence fondés sur la SN

Les niveaux de référence fondés sur la SN s’appliquent aux valeurs RMS instantanées maximales des champs E et H. Pour des raisons pratiques, les étapes analytiques seront expliquées pour le champ E seulement; les mêmes étapes s’appliquent au champ H.

La valeur RMS du champ E, Erms (t), peut être exprimée comme suit :

\[ E_{rms}(t) = \sqrt{\frac{1}{T}\int_{t-T/2}^{t+T/2}[E(\tau)]^{2}d\tau } \]

(10)

 

T correspond à l’inverse de la fréquence la plus élevée associée à l’évaluation et τ représente la variable temps dans l'intégrande (il n'est introduit que pour éviter toute ambiguïté dans l'équation).

Remarque : Une valeur prudente de T = 0,1 µs peut être utilisée, ou la valeur Erms (t) peut être définie comme étant égale à E(t).

La valeur RMS instantanée maximale du champ E, Emax, doit correspondre à la valeur maximale de Erms (t) observée sur tout l’intervalle de mesure qui, quant à lui, doit être suffisamment long pour garantir que Emax a convergé. Cet intervalle de temps doit être d’au moins 1 seconde.

En fonction de la valeur de Emax et du niveau de référence correspondant, ENR-SN, la contribution du ratio d’exposition associée à cette mesure doit être calculée comme suit :

\[ RE_{NRE-SN}=\frac{E_{max}}{E_{NR-SN}} \]

(11)

 

RENRE-SN est la contribution du ratio d’exposition fondée sur la SN provenant du champ E incident. Il en va de même pour le champ H :

\[ RE_{NRH-SN}=\frac{H_{max}}{H_{NR-SN}} \]

(12)

 
7.2.3.3 Niveaux de référence fondés sur le DAS

Des précautions supplémentaires doivent être prises lors d’une évaluation dans le domaine temporel en fonction des niveaux de référence fondés sur le DAS, car ces niveaux de référence s’appliquent aux valeurs RMS maximales des champs E et H moyennées sur une période de six minutes. De plus, ces niveaux dépendent de la fréquence. Une approche pour ce type d’évaluations est présentée à l’annexe C; toutefois, d’autres solutions peuvent parfois s’avérer plus pratiques. Afin de proposer une approche tout aussi prudente, sinon plus, une demande doit être soumise à ISDE.

8. Évaluations informatiques

La présente section fournit des directives spécifiques aux évaluations informatiques, qu’elles soient faites en fonction des restrictions de base ou des niveaux de référence.

8.1 Méthode et outil pour l’évaluation informatique

L’outil informatique doit être clairement identifié dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF. Il doit utiliser une des méthodes informatiques à pleine onde suivantes :

  • technique des différences finies dans le domaine temporel (FDTD) ou technique d’intégration finie (FIT);
  • méthode des éléments finis (FEM).
 

Autrement, il est possible de soumettre une demande à ISDE, en décrivant la méthode proposée et la façon dont cette méthode peut être utilisée pour effectuer une évaluation prudente de l’exposition aux RF.

8.2 Vérification du code

L’outil sélectionné doit respecter les exigences de vérification de code précisées dans la norme internationale qui cadre le mieux avec la technique choisie, par exemple la norme CEI/IEEE 62704-1 pour la technique FDTD ou FIT, ou la norme CEI/IEEE 62704-4 pour la FEM.

8.3 Modélisation informatique

La présente section fournit des directives relativement à la modélisation informatique.

8.3.1 Modélisation du MAE

La procédure de modélisation du MAE doit être décrite dans le mémoire technique d’exposition aux RF. Les dimensions mécaniques et les propriétés des matériaux pertinentes doivent être indiquées, ainsi que les tolérances associées.

Il est souvent nécessaire de simplifier, d’omettre ou de remplacer certains aspects de la modélisation du MAE afin de réduire le temps de simulation et de respecter les limites de mémoire. Une description de ces modifications, ainsi que leur incidence prévue sur les résultats de l’évaluation, doit être fournie dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

8.3.2 Excitation et chargement du MAE

La ou les excitations appliquées à la modélisation du MAE doivent concorder autant que possible avec les formes d’onde d’émission correspondantes. S’il s’agit de porteuses non modulées ou modulées à bande étroite, c.-à-d. que les exigences relatives aux évaluations dans le domaine fréquentiel mentionnées à la section 7.1.4 sont respectées, le spectre des émissions simulées doit inclure toutes les composantes fréquentielles pour lesquelles les niveaux de champ dépassent les niveaux de sensibilité indiqués à la section 7.1.6.1. Ces composantes doivent être ciblées grâce à des mesures préliminaires effectuées à l’aide d’une sonde de champ qui répond aux exigences précisées dans les sections 7.1.5, 7.1.6.1, 7.1.6.2, 7.1.6.3 et 7.1.7.2. Une correspondance relative entre les niveaux des composantes fréquentielles simulées et mesurées doit être démontrée dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

Cela peut se faire soit en montrant :

  • des graphiques démontrant une bonne corrélation entre les valeurs simulées et mesurées; ou
  • l'écart entre les valeurs simulées et mesurées se situe dans les limites de l'incertitude combinée en utilisant les équations 15 et 8 de la norme IEC/IEEE 62704-1 et IEC/IEEE 62704-4, respectivement.

Si le MAE comprend des éléments chargés, comme un dispositif TASF client ou une étiquette RFID, l’incidence du chargement sur les spectres d’émission doit être modélisée le plus fidèlement possible afin de garantir que la modélisation informatique permet de bien rendre le ou les pires ratios d’exposition.

Il convient de noter que des exigences supplémentaires relatives aux implémentations TASF sont fournies dans l’annexe D.

Pour les émissions du MAE apériodiques ou modulées à large bande, une demande proposant une approche d’excitation ou de modélisation de la charge prudente doit être soumise à ISDE.

8.3.3 Paramètres de simulation et ressources informatiques

Tous les paramètres de simulation pertinents, comme ceux liés au maillage, aux conditions limites, à la convergence, etc., ainsi que les ressources informatiques nécessaires pour reproduire les résultats de la simulation, doivent être fournis dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

8.3.4 Propriétés du fantôme

Pour les évaluations en fonction des restrictions de base, il est nécessaire de modéliser un fantôme équivalent au tissu dans lequel le DAS induit ou le champ E interne peuvent être évalués. Au moment d’écrire ces lignes, il n’existait aucune approche générale acceptée à l’échelle internationale pour la modélisation de l’interaction entre les tissus humains et les champs RF en bas de 10 MHz.

Lors de l’évaluation de l’exposition locale au niveau du torse ou du corps, le fantôme elliptique plat défini dans la norme CEI/IEEE 62209-1528 peut être utilisé, avec les propriétés des matériaux résumées dans le tableau 3. Les dimensions du fantôme peuvent être réduites, à condition que cela n’ait pas d’effet mesurable sur les résultats de l’évaluation. Cette condition doit être démontrée dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

Autrement, une demande détaillée proposant une définition prudente du fantôme peut être soumise à ISDE pour approbation.

Tableau 3 : Propriétés d’une matière équivalente aux tissus humains permettant de créer un fantôme plat homogène destiné à évaluer l’exposition locale du corps ou du torse
Propriété Symbole Valeur
Constante diélectrique \( \varepsilon _{r} \) 55 (-)
Conductivité électrique \(\sigma\) 0,75 S/m
Masse volumique \(\rho\) 1000 kg/m3
 

Remarque : Les propriétés des matériaux du tableau 3 proviennent de la norme CIE/IEEE 62209-1528. Bien que les lignes directrices CEI/IEEE 62209-1528 soient limitées à ≥ 4 MHz, les propriétés des matériaux résumées dans le tableau 3 peuvent être utilisées en dessous de 4 MHz aux fins de la PRS-002.

8.3.5 Incertitude

Cette section contient les lignes directrices pour l’analyse d’incertitude par ordinateur.

8.3.5.1 Exigences générales relatives à l’analyse d’incertitude par ordinateur

Une analyse d’incertitude complète doit être faite et présentée conformément aux normes internationales qui s’appliquent le mieux à la méthode de calcul choisie, soit CEI/IEEE 62704-1 pour la méthode FDTD ou FIT, soit CEI/IEEE 62704-4 pour la FEM. Le bilan d’incertitude qui sera fourni dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF devrait démontrer que l’incertitude accrue (k = 2) du modèle informatique est ≤30 %. Si ce n’est pas le cas, il faut présenter une demande à ISDE.

Les étapes de l’évaluation du bilan d’incertitude doivent être indiquées dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

8.3.5.2 Incertitudes de simulation

Il faut parfois s’écarter des procédures prescrites pour évaluer les diverses incertitudes de simulation, car les normes internationales comme CEI/IEEE 62704-1/-4 n’ont pas été élaborées pour la gamme de fréquences couverte ici. Par exemple :

  1. Résolution du maillage (FDTD / FIT) – si les directives données à la section 7.2.3 de la norme CEI/IEEE 62704-1 s’avèrent trop compliquées pour les calculs, cette incertitude peut être évaluée en augmentant le nombre total de cellules de mailles d’un facteur de 2 ou, en cas d’application d’une sous-grille, d’un facteur de 4 dans la région la plus exposée (y compris la ou les antennes sources).
  2. Conditions des limites (FDTD / FIT / FEM) – si les directives données à la section 7.2.4 de la norme CEI/IEEE 62704-1 ou à la section à la section 7.2.3 de la norme CEI/IEEE 62704 4 s’avèrent trop compliquées pour les calculs, cette incertitude peut être évaluée en augmentant la taille de la zone limite de 50 % dans toutes les directions.
  3. Convergence (FDTD / FIT) – si les directives données à la section 7.2.6 de la norme CEI/IEEE 62704-1 s’avèrent trop compliquées pour les calculs, on peut appliquer la solution suivante : le temps de simulation requis pour la convergence, Tconv, doit être suffisamment long pour garantir que le niveau de champ RMS maximal reste dans le même voxel associé au niveau de champ RMS maximum dans la région d’exposition ne change pas lorsque le temps de simulation augmente à 1,5 Tconv, c.-à-d. que l’emplacement du champ RMS maximum ne change pas. De plus, le niveau de champ associé à ce voxel ne doit pas varier de plus de 2 %. On peut prendre en considération le champ E ou H, selon celui qui est dominant dans le contexte de l’exposition. Le pourcentage de variation du niveau de champ RMS maximum accompagnant l’augmentation de Tconv à 1,5 Tconv constituera l’incertitude de convergence, avec une distribution rectangulaire.
  4. Valeur diélectrique du fantôme (FDTD / FIT / FEM) – lorsqu’elle est obtenue avec un fantôme plat et homogène dont les propriétés des matériaux correspondent à celles du tableau 3 ci-dessus, l’incertitude peut être réglée à zéro.
 

Pour tous les autres écarts, une demande doit être soumise à ISDE.

8.3.5.3 Incertitude et validation du modèle MAE

Une analyse d’incertitude complète consiste à faire des mesures pour valider le modèle du MAE et déterminer son incertitude. Pour des émissions à plus de 4 MHz, cela doit se faire conformément à la section 7.3 de CEI/IEEE 62704-1 (FDTD/FIT) ou de CEI/IEEE 62704-4 (FEM), avec CEI/IEEE 62209-1528 comme référence pour les mesures du DAS. Cette règle s’applique aux émissions en dessous de 4 MHz, à l’exception de la section 7.3.3 de CEI/IEEE 62704-1/-4, qui prescrit des mesures du DAS pour la validation. Ces lignes directrices devraient être la base de l’approche, mais des modifications peuvent être imposées pour des raisons pratiques. Les directives ci-dessous peuvent être appliquées au lieu de la section 7.3.3 de la norme CEI/IEEE 62704-1/-4.

  1. Au lieu des mesures de DAS, on peut faire des mesures de champ incident dans toute la région d’exposition. Ces mesures peuvent être limitées au champ E ou au champ H, s’il est démontré que l’autre champ ne contribue pas au ratio d’exposition résultant.
  2. Dans la mesure du possible, il faut considérer le pire des scénarios d’exposition et la ou les pires distances de séparation.
  3. Les sondes utilisées pour les mesures de champ doivent être conformes aux exigences des sections 7.1.5, 7.1.6.1, 7.1.6.2 et 7.1.6.3 du présent document. Elles devraient également respecter les exigences décrites dans les sections 7.1.7, sinon les effets de moyenne spatiale et de l’anisotropie doivent être incorporés dans la validation, soit par un post traitement des résultats de champ simulé, soit en intégrant les antennes des sondes dans le modèle informatique de validation.
  4. Lorsqu’on définit les points de l’espace dont les mesures seront comparées avec les résultats de la simulation, il faut tenir compte des considérations suivantes :
    1. Les mesures doivent être effectuées en 25 points au moins. Si possible, ceux-ci doivent être répartis sur au moins deux surfaces, dont l’une est située à la distance de séparation, c’est-à-dire sur la surface d’évaluation ou la surface la plus proche de la région d’exposition.
    2. Si possible, l’un des points de mesure devrait permettre d’obtenir le niveau maximal du champ dans la région d’exposition.
    3. La distance entre les points de mesure adjacents ne doit pas dépasser 100 mm et devrait être assez petite pour que la différence entre les niveaux de champ voisins soit inférieure à 6 dB.
    4. Dans la mesure du possible, la distribution spatiale des points de mesure doit être telle que l’on obtienne une bonne répartition des niveaux de champ à moins de 20 dB du niveau maximal.
  5. En ce qui concerne le bilan d’incertitude :
    1. L’incertitude du modèle peut être calculée selon la section 7.3.3 de CEI/IEEE 62704-1/-4, mais en remplaçant les valeurs du DAS par celles des champs au carré : |E|2 ou |H|2.
    2. L’incertitude du modèle de fantôme plat est zéro. Si d'autres fantômes sont utilisés, une demande détaillée proposant une incertitude conservatrice du fantôme doit être soumise à ISDE pour approbation.
    3. L’incertitude de l’équipement et de la procédure de mesure devrait être estimée aussi près que possible en fonction des renseignements fournis par le fabricant de l’équipement, de la position de la sonde de champ, etc.
  6. La procédure décrite à la section 7.3.4 de CEI/IEEE 62704-1 (FDTD/FIT) ou à la section 7.3.5 de CEI/IEEE 62704-4 (FEM) doit être suivie pour démontrer que le modèle MAE est valide.
 

S’il n’est pas possible de prendre les mesures dans la région d’exposition à cause de contraintes physiques, des modifications mineures peuvent être apportées au MAE pour permettre l’accès, à condition que ces modifications n’aient pas d’impact important sur les résultats de l’évaluation. Par exemple, les matériaux non conducteurs de l’enceinte peuvent être déplacés ou retirés s’il est démontré, par simulation ou autrement, qu’ils n’ont pas d’impact significatif sur la distribution du champ dans la région d’exposition. Par ailleurs, des parties individuelles du MAE peuvent être modélisées et validées indépendamment, s’il est démontré que les champs globaux produits par l’appareil sont équivalents à la superposition des champs produits par chaque partie prise isolément. Si aucune de ces deux options n’est viable, une demande doit être soumise à ISDE.

Une description détaillée de la procédure de validation du modèle MAE doit être donnée dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF, ainsi que les résultats de la validation du modèle et les tracés ou tableaux démontrant la concordance entre les résultats mesurés et simulés.

8.4 Évaluations de l’exposition

Une fois que le modèle informatique a été validé, on peut effectuer les évaluations de l’exposition. La présente section décrit les exigences relatives à ces évaluations.

8.4.1 Nombre d’évaluations

Ces évaluations devraient être faites pour chaque combinaison de scénarios d’exposition et de distances de séparation respectivement décrites dans les sections 5.1 et 5.2. On peut réduire cet effort à un sous-ensemble des pires scénarios d’exposition et des pires distances de séparation, à condition d’en justifier la logique dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

8.4.2 Évaluations en fonction des restrictions de base

La présente section donne des lignes directrices pour les évaluations informatiques en fonction des restrictions de base.

8.4.2.1 Fantôme

Pour les évaluations de l’exposition en fonction des restrictions de base, un fantôme équivalent au tissu doit être ajouté au modèle informatique à la distance de séparation correspondante, et orienté pour produire le pire cas d’exposition.

Pour le fantôme plat défini à la section 8.3.4, l’une des surfaces les plus grandes doit être face à le MAE pour capter les champs incidents les plus intenses. Il faut veiller à ce que les bords et les coins du fantôme ne se trouvent pas dans des régions à champ élevé, car les grandeurs induites pourraient être artificiellement renforcées dans ces zones.

8.4.2.2 Débit d’absorption spécifique (DAS)

Le DAS moyen sur 1 g ou 10 g doit être évalué dans le fantôme conformément à la norme internationale applicable, p. ex. CEI/IEEE 62704-1 pour FDTD/FIT ou CEI/IEEE 62704-4 pour FEM. Le ou les cycles d’émission utilisés par le MAE peuvent être incorporés dans l’évaluation, à condition d’obtenir le résultat moyen maximal sur six minutes.

En supposant que les émissions du MAE associé respectent les conditions d’une évaluation dans le domaine fréquentiel, le ratio d’exposition fondé sur le DAS, \(RE_{RB-DAS}\), peut se calculer selon la formule suivante :

\[ RE_{RB-DAS}=\frac{1}{DAS_{RB}}\sum_{n=1}^{N}DAS(f_{n}) \]

(13)

 

où :

  • DASRB est la restriction de base applicable au DAS (p. ex. 1,6 W/kg moyenné sur 1 g pour la tête, le cou et le tronc, 4 W/kg moyenné sur 10 g pour les membres);
  • N est le nombre de composantes de fréquence associées à l’évaluation du DAS;
  • DAS(fn) est la contribution au DAS de la n-ième composante de fréquence.

Un ou plusieurs tracés illustrant la distribution du DAS ou \(RE_{RB-DAS}\) dans l’ensemble du fantôme devraient être inclus dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF, et la valeur maximale devrait être clairement donnée. Le maximum du calcul du \(RE_{RB-DAS}\) devrait aussi être indiqué.

8.4.2.3 Champ E interne

En utilisant la même approche de maillage que pour le DAS, c’est-à-dire en suivant CEI/IEEE 62704-1 pour FDTD et FIT ou CEI/IEEE 62704-4 pour FEM, mais sans calculer de moyenne spatiale, il convient de déterminer l’intensité du champ E RMS spatiale de crête dans le fantôme. Le ou les cycles d’émission du MAE ne doivent pas être pris en compte dans l’évaluation, car les limites de la SN sont fondées sur l’exposition instantanée.

En admettant que les émissions du MAE associé respectent les conditions d’une évaluation dans le domaine fréquentiel, le ratio d’exposition fondé sur la SN \(RE_{RB-SN}\), peut se calculer avec la formule suivante :

\[ RE_{RB-SN}=\sum_{m=1}^{M}\frac{E_{int}(f_{m})}{E_{RB}(f_{m})} \]

(14)

 

où :

  • M est le nombre de composantes de fréquence associées à l’évaluation du champ E interne;
  • \(E_{int} (f_{m})\) est la contribution au champ E interne de la m-ième composante de fréquence;
  • \(E_{RB} (f_{m})\) est la restriction de base applicable pour le champ E interne de la m-ième composante de fréquence.

Une attention particulière doit être apportée lors de l'évaluation de la valeur crête spatial du (champ E interne maximum) car cette valeur peut être sujette à des incertitudes de discrétisation. Il est nécessaire de déterminer si la valeur crête spatial obtenue est suffisamment convergée. Cela peut être évalué par des simulations supplémentaires avec une résolution de maillage affinée à l'emplacement de la valeur crête spatial. Dans les situations où la valeur crête spatial est suffisamment convergée, une augmentation de la résolution de la maille par un facteur de deux, devrait conduire à une différence négligeable entre la simulation originale et la nouvelle. Lorsque la valeur crête spatial n'est pas suffisamment convergée, il y aura un écart important entre les valeurs crêtes spatiales enregistrées pour les deux simulations.

Les tracés illustrant la distribution du champ E dans le fantôme devraient être fournis et la valeur maximale du champ E interne devrait être clairement indiquée. Le résultat maximal du \(RE_{RB-SN}\) devrait aussi être indiqué.

Il est important de noter que lors de l’évaluation du champ E interne, le ou les cycles d’émission de la ou des sources TASF ne doivent pas être pris en compte dans l’évaluation, car les restrictions de base correspondantes concernent l’exposition instantanée.

8.4.3 Évaluations en fonction des niveaux de référence

Lorsque ni une évaluation par rapport aux restrictions de base, ni une évaluation basée sur des mesures par rapport aux niveaux de référence ne sont possibles, une évaluation informatique doit être faite en fonction des niveaux de référence. Cette section contient des directives à cet égard, à condition que les émissions consistent en des porteuses non modulées ou modulées en bande étroite, c’est-à-dire répondant aux exigences d’une évaluation dans le domaine fréquentiel décrite à la section 7.1.4. Si ce n’est pas possible, une demande doit être soumise à ISDE conformément à la section 8.3.2.

Selon les lignes directrices de la section 7.2, sauf 7.2.3, les valeurs, \(ER_{NRE-SN}\), \(ER_{NRH-SN}\) et \(ER_{NR-DAS}\) doivent être calculées sur la surface d’évaluation, c’est-à-dire à la distance de séparation correspondante, pour chaque face du MAE accessible à l’utilisateur.

De plus, des tracés des champs E et H RMS sur chaque surface d’évaluation devraient être fournis. Le niveau maximum du champ RMS devrait être clairement indiqué sur chaque tracé. Dans les cas où l’excitation et la charge créent des composantes de fréquence multiples à inclure dans l’évaluation, il faudra suivre les procédures suivantes  :

  1. si on utilise une fréquence fondamentale, porteuse ou de répétition des impulsions fixe, il faut indiquer cette fréquence et fournir le tracé correspondant et un tableau résumant les niveaux maximaux du champ RMS sur la surface d’évaluation pour chaque composante de fréquence incluse dans l’évaluation;
  2. si on utilise une fréquence fondamentale, porteuse ou de répétition des impulsions variable, il faut suivre le processus du paragraphe (i) pour la fréquence qui produit le pire cas d’exposition;
  3. si on utilise plusieurs fréquences fondamentales, porteuses ou de répétition des impulsions, il faut suivre le processus du paragraphe (i) pour chacune des fréquences.
 

9. Exposition totale

La conformité aux limites destinées à éviter les effets de SN et les effets thermiques est démontrée si les pires ratios d’exposition totale (RET) correspondant à chacun de ces effets sont inférieurs ou égaux à 1. Ces RET sont évalués séparément en fonction des ratios d’exposition fondés sur la SN ou le DAS correspondants et conformément aux sections ci-après.

9.1 Ratio d’exposition totale fondé sur la SN

La gamme de fréquences associée aux limites fondées sur la SN correspond à celle de la PRS-002. Par conséquent, le RET fondé sur la SN, RETSN, peut être évalué à partir des ratios d’exposition fondés sur la SN calculés aux sections 6, 7 et/ou 8 à l’aide de la formule suivante :

\[RET_{SN}=\sum_{n=1}^{N}RE_{RB-SN,n}+max\left ( \sum_{m=1}^{M}RE_{NRE-SN,m},\sum_{m=1}^{M}RE_{NRH-SN,m}\right ) \]
 

(15)

 

où :

  • N est le nombre d’émetteurs fonctionnant simultanément pour lesquels une évaluation en fonction de la restriction de base pour le champ E interne a pu être effectuée;
  • \(RE_{RB-SN,n}\) est le ratio d’exposition fondé sur la SN du n-ième émetteur fonctionnant simultanément pour lequel une évaluation en fonction de la restriction de base pour le champ E interne a pu être effectuée;
  • M est le nombre d’émetteurs fonctionnant simultanément pour lesquels une évaluation en fonction des niveaux de référence fondés sur la SN a pu être effectuée;
  • \(RE_{NRE-SN,m}\) est le ratio d’exposition fondé sur la SN du m-ième émetteur fonctionnant simultanément pour lequel une évaluation en fonction du niveau de référence fondé sur la SN pour le champ E incident a pu être effectuée;
  • \(RE_{NRH-SN,m}\)est le ratio l’exposition fondé sur la SN du m-ième émetteur fonctionnant simultanément pour lequel une évaluation en fonction du niveau de référence fondé sur la SN pour le champ H incident a pu être effectuée.
 

Les valeurs maximales du RETSN doivent figurer dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF pour chaque condition d’exposition, et la valeur la plus élevée doit être clairement indiquée. La conformité aux limites fondées sur la SN est démontrée si le pire RETSN ≤ 1.

9.2 Ratio d’exposition totale fondé sur le DAS (100 kHz à 10 MHz)

Les ratios d’exposition fondés sur le DAS calculés selon les sections 6, 7 et/ou 8 peuvent être combinés pour déterminer le \(RET_{DAS\leq 10MHz}\), le RET fondé sur le DAS associé à la gamme de fréquences de 100 kHz à 10 MHz.

\[ RET_{DAS\leq 10MHz}=\sum_{n=1}^{N}RE_{RB-DAS,n}+\sum_{m=1}^{M}RE_{NR-DAS,m} \]

(16)

 

où :

  • N est le nombre d’émetteurs fonctionnant simultanément pour lesquels une évaluation en fonction de la restriction de base pour le DAS a pu être effectuée;
  • \(RE_{RB-DAS,n}\) est le ratio d’exposition fondé sur le DAS du n-ième émetteur fonctionnant simultanément pour lequel une évaluation en fonction de la restriction de base pour le DAS a pu être effectuée comme indiqué à l’équation (13);
  • M est le nombre d’émetteurs fonctionnant simultanément pour lesquels une évaluation en fonction des niveaux de référence fondés sur le DAS a pu être effectuée;
  • \(RE_{NR-DAS,m}\) est le ratio d’exposition fondé sur le DAS du m-ième émetteur fonctionnant simultanément pour lequel une évaluation en fonction des niveaux de référence fondés sur le DAS a pu être effectuée comme indiqué à l’équation (7).
 

Pour obtenir le RET associé à l’effet thermique global, \(RET_{therm}\), les contributions à l’exposition aux émissions au-dessus de 10 MHz doivent être incluses conformément au CNR-102. Ainsi :

\[ RET_{therm}=RET_{DAS\leq 10MHz}+RET_{DAS,PD> 10MHz} \]

(17)

 

où \(TER_{SAR,PD>10MHz}\) est le RET associé aux émissions des émetteurs fonctionnant simultanément au-dessus de 10 MHz. Les valeurs maximales du \(RET_{therm}\) doivent figurer dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF pour chaque condition d’exposition, et la valeur la plus élevée doit être clairement indiquée. La conformité aux limites fixées pour prévenir les effets thermiques est démontrée si le pire cas du \(RET_therm\leq 1\).

10. Mémoire technique sur l’exposition aux RF

Le mémoire technique sur l’exposition aux RF doit contenir tous les renseignements nécessaires pour reproduire les mesures et les résultats des simulations, notamment l’information concernant les configurations, les méthodes et les équipements d’essai. L’annexe A contient une liste complète de l’information à inclure.

Si le MAE produit des émissions au-dessus de 10 MHz, des évaluations supplémentaires sont nécessaires pour démontrer pleinement la conformité. Dans ce cas, le mémoire technique sur l’exposition aux RF doit contenir toutes les données supplémentaires à inclure conformément à d’autres normes applicables d’ISDE, comme CNR-102, PRS-003, Procédure supplémentaire d’évaluation de la conformité en matière d’exposition humaine aux radiofréquences des dispositifs portatifs exploités dans la gamme de fréquences de 60 GHz (de 57 GHz à 71 GHz), et/ou PRS-004, Procédures d’évaluation de la valeur moyenne temporelle du débit d’absorption spécifique (TAS) s’appliquant aux dispositifs sans fil exploités dans la bande de fréquences de 4 MHz à 6 GHz.

Annexe A : Résumé des informations à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF

La présente annexe donne un résumé complet de toutes les informations à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF pour démontrer la conformité à la PRS-002.

A.1. Informations générales à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF

Le tableau A1 résume les informations générales à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

Tableau A1 : Informations générales à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF
Description de l’article Voir sections
Cas d’utilisation du MAE et principales conditions d’exposition aux RF. 5.1
Liste des distances de séparation fondées sur la SN et le DAS associées à chaque évaluation individuelle, avec des justifications suffisantes. 5.2
Informations sur le laboratoire d’essai, y compris la reconnaissance et l’accréditation d’ISDE, ainsi que les dates d’évaluation. 5.3
Description de la nature, de la finalité et de la théorie de fonctionnement du MAE, y compris les informations relatives à la certification (numéro de certification ISDE, le numéro d’identification de la version du matériel (NIVM), le nom de marque du produit (NMP), le nom de marque de l’hôte (NMH), etc.). 5.4.1
Description de chaque antenne dans le MAE, dont : nombre et type d’éléments, impédance, inductance et capacité d’entrée, blindage et conformation du champ, dimensions et propriétés des matériaux, etc. 5.4.2
Description des formes d’onde générées par chaque émetteur dans le MAE, dont : forme d’onde fondamentale (sinusoïdale, triangulaire, rectangulaire ou autre) et fréquence, modulation appliquée et LBO à 99 %, facteur d’utilisation, etc. 5.4.3
Description du comportement du MAE à chaque état de fonctionnement, les conditions nécessaires pour déclencher une transition d’état et les synchronisations associées. 5.4.4
Description de la puissance par conduction du niveau d’excitation appliqué à chaque antenne en fonction des cas d’utilisation et des états opérationnels applicables. 5.4.5
Liste des méthodes utilisées pour chaque évaluation en fonction des limites fondées sur la SN et le DAS, avec des justifications suffisantes. 5.5
Résumé des résultats de ratio d’exposition obtenus pour chaque évaluation, avec les pires RET fondés sur la SN et le DAS. 9.1, 9.2
 

A.2. Évaluations fondées sur des mesures par rapport aux restrictions de base

Fournir des informations sur les évaluations fondées sur des mesures par rapport aux restrictions de base pour le DAS conformément au CNR-102.

A.3. Évaluations fondées sur des mesures par rapport aux niveaux de référence

Le tableau A2 résume les informations à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF pour des évaluations fondées sur des mesures par rapport aux niveaux de référence.

Tableau A2 : Informations à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF pour des évaluations fondées sur des mesures par rapport aux niveaux de référence
Description de l’article Voir sections
Description de l’installation d’essai, y compris la ou les sondes de champ et les autres équipements d’essai, le ou les environnements d’essai et la ou les configurations physiques du MAE. 7.1.1, 7.1.2
Liste des émissions du MAE étudiées, et si une évaluation dans le domaine fréquentiel ou le domaine temporel est applicable, avec justification. 7.1.4
Évaluation de la ou des gammes de fréquences, incluant des détails supplémentaires et une justification suffisante pour la ou les réductions de gamme de fréquences ou l’utilisation de plusieurs montages d’équipements en vue de couvrir la totalité de la ou des gammes. 7.1.5
Spécifications des sondes de champ, notamment : gamme de fréquences, certifications de calibration, sensibilité, réponse, plage linéaire et erreur de linéarité, taille de l’antenne (\(D_{p} \)) et isotropie. 7.1.6
Taille de la ou des antennes concernées du MAE (valeurs (\(D_{s} \))ainsi que les valeurs correspondantes de (\(d_{ant} \))et, si nécessaire, (\(d_{enc} \)) ou (\(d_{sép} \)), pour démontrer que les mesures ont été effectuées conformément à l’équation (2), c’est-à-dire que les exigences de dimensions d’antenne sont bien respectées. 7.1.7.1
Description et spécifications pertinentes de position de l’appareil pour la sonde de champ. 7.1.7.3
Description de la procédure de balayage pour trouver les points d’exposition maximale aux distances de séparation correspondantes, c’est-à-dire sur la surface d’évaluation, pour chaque composante du champ et chaque côté du MAE accessible à l’utilisateur. 7.2.1
Photographies de toute l’installation d’essai, particulièrement les configurations qui produisent la plus forte exposition. 7.2.1
Description détaillée des étapes prises pour convertir les niveaux de champ mesurés en des ratios d’exposition correspondants, soit \(RE_{NRE-SN} \), \(RE_{NRH-SN} \) ou \(RE_{NR-DAS} \). 7.2.2 et/ou 7.2.3
Tracés d'essai dans le domaine temporel démontrant que la source TASF cesse de transmettre dans la seconde qui suit le retrait de la charge d'essai. D.2.3
 

A.4. Évaluations informatique

Le tableau A3 résume les informations à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF pour les évaluations informatiques, par rapport aux restrictions de base ou aux niveaux de référence.

Tableau A3 :  Information à inclure dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF pour les évaluations informatiques, par rapport aux restrictions de base ou aux niveaux de référence
Description de l’article Voir sections
Outils et méthode de calcul, c’est-à-dire FDTD/FIT et FEM 8.1
Vérification des codes des résultats (éventuellement sous forme d’une annexe distincte) 8.2
Description et illustrations du modèle de MAE, notamment dimensions mécaniques, propriétés des matériaux, tolérances et toutes simplifications faites pour respecter les exigences pratiques de mémoire et les temps de simulation. 8.3.1
Description et illustrations de l’excitation et de la charge appliquée au modèle, avec une comparaison entre les excitations mesurées et simulées. 8.3.2
Résumé des paramètres de simulation et des besoins en ressources informatiques, notamment :
  1. les ressources informatiques utilisées pour effectuer l’évaluation;
  2. les exigences informatiques minimales pour reproduire les résultats;
  3. les conditions de réalisation et la durée totale de la simulation;
  4. les conditions limites et l’étendue du domaine de calcul;
  5. le type de maillage, la configuration du maillage (densité et tailles de pas, critères d’optimisation, etc.) et nombre total de cellules de mailles;
  6. tous les autres paramètres pertinents nécessaires pour reproduire les résultats.
8.3.3
La forme, les dimensions et les propriétés des matériaux du fantôme équivalent au tissu pour les évaluations en fonction des restrictions de base. 8.3.4
Analyse d’incertitude détaillée, notamment :
  1. bilan d’incertitude complet selon la norme internationale applicable, par exemple CEI/IEEE 62704-1 ou 62704-4;
  2. description de la méthode utilisée pour obtenir chaque valeur d’incertitude, y compris tout écart par rapport à ces normes;
  3. description détaillée et illustration de la procédure de validation du modèle MAE et des résultats;
  4. indication de l’incertitude étendue, qui devrait être ≤ 30 %.
8.3.5.1 à 8.3.5.3
Description détaillée de la procédure d’évaluation de l’exposition et des résultats, y compris toutes les conditions d’exposition et les distances de séparation, ainsi que la logique pour la réduction des configurations les plus défavorables. 8.4.1
Pour les évaluations en fonction des restrictions de base, inclure :
  1. des illustrations montrant les positions et les orientations relatives du MAE et du fantôme équivalent au tissu;
  2. une description détaillée de la procédure d’évaluation pour le DAS et le champ E interne à l’intérieur du fantôme;
  3. un ou des tracés des valeurs du DAS et du champ E interne à l’intérieur du fantôme;
  4. les emplacements et les valeurs des ratios d’exposition maximaux fondés sur la SN ou le DAS, c’est-à-dire \(RE_{RB-SN} \) et/ou \(RE_{RB-DAS} \)
8.4.2.1 à 8.4.2.3
Pour les évaluations en fonction des niveaux de référence, inclure :
  1. des illustrations montrant les positions et les orientations relatives du MAE et de la ou des surfaces d’évaluations;
  2. des tracés des niveaux des champs E et H sur la ou les surfaces d’évaluations;
  3. les emplacements et les valeurs du ou des ratios d’exposition maximaux fondés sur la SN et/ou le DAS, c’est-à-dire \(RE_{NRE-SN} \), \(RE_{NRH-SN} \) ou \(RE_{NR-DAS} \)
8.4.3
 

Annexe B : Calcul de la moyenne spatiale pour les évaluations de l’exposition du corps entier

L’annexe B fournit les lignes directrices relatives à l’application du calcul de la moyenne spatiale aux évaluations de l’exposition du corps entier en fonction des niveaux de référence.

B.1. Généralités

Lorsqu’on applique le calcul de la moyenne spatiale, chaque mesure individuelle doit être effectuée selon les lignes directrices de la section 7.

Si les niveaux de champ associés à une source d’émissions particulière ne sont pas constamment dans la plage de sensibilité de la sonde de champ à chaque emplacement de calcul de la moyenne spatiale et à chaque fréquence, il ne faut pas appliquer le calcul de la moyenne spatiale pour cette source (voir la section 7.1.6.1 pour les exigences de sensibilité de la sonde).

Le calcul de la moyenne spatiale pour les évaluations de l'exposition du corps entier (pour le champ E et le champ H par rapport aux niveaux de référence NS et DAS) n'est autorisé que lorsque la moyenne arithmétique des mesures est supérieure ou égale à la moitié de la valeur de la mesure ponctuelle maximale observée conformément à la section 7.2. Le calcul de la moyenne spatiale n'est pas autorisé si la valeur moyenne arithmétique des mesures est inférieure à la moitié de la valeur de la mesure maximale observée en un seul point.

B.2. Champ E

Le calcul de la moyenne spatiale de l’exposition au champ E se calcule verticalement sur toute l’étendue verticale du corps humain. On supposera de façon prudente que cette étendue est de 180 cm, représentant la taille d’un grand adulte. Au départ, l’étendue complète doit être balayée pour déterminer le point où l’exposition est maximale. Des mesures supplémentaires doivent être effectuées à au moins cinq hauteurs discrètes, comme le montre la figure B1. Cela correspond à un espacement de 40 cm entre les points d’échantillonnage. Si l’un de ces points coïncide avec le point d’exposition maximale, il doit être inclus qu’une seule fois dans le calcul de la moyenne spatiale.

Figure B1 : Illustration des exigences minimales pour l’échantillonnage discret lors de la prise des mesures afin de calculer la moyenne spatiale du champ E.

Illustration des exigences minimales pour l’échantillonnage discret lors de la prise des mesures afin de calculer la moyenne spatiale du champ E. (la description détaillée se trouve sous l'image)
Description de la figure B1

Silhouette d’un corps humain sur laquelle cinq petits cubes sont positionnés sur l’axe vertical du corps. Chaque cube est séparé par 20 cm. Les cinq cubes s’étendent sur une hauteur de 180 cm, à partir des hanches jusqu’au centre de la tête.

 

Pour les évaluations en fonction des niveaux de référence fondés sur la SN, \(RE_{NRE-SN} \)est évalué à chaque point de mesure, selon la section 7.2. La moyenne arithmétique des résultats doit être considérée comme la moyenne spatiale de la contribution au ratio d’exposition fondé sur la SN de l’évaluation. Des instruments capables d’effectuer des mesures automatisées du champ E et de calculer la moyenne spatiale des résultats peuvent être utilisés, à condition que la sonde se déplace uniformément dans les champs à une vitesse permettant de calculer de manière fiable le champ E RMS instantané maximal, compte tenu de la nature variable dans le temps des émissions.

Lorsqu’on fait une évaluation en fonction de niveaux de référence fondés sur le DAS, il faut commencer par démontrer que les valeurs de RENR-DAS obtenues à chaque point conformément à la section 7.2 dépendent exclusivement du champ E. Si c’est le cas, la moyenne arithmétique des résultats doit être considérée comme étant la moyenne spatiale de la contribution du ratio d’exposition fondé sur le DAS de l’évaluation.

B.3. Champ H

Pour le calcul de la moyenne spatiale du champ H, on suppose que la source est une antenne cadre (à boucle ou à bobine). La moyenne est obtenue sur une zone plane, parallèle au plan de l’ouverture de l’antenne et positionnée de manière à saisir le pire cas d’exposition. Les dimensions de la zone de calcul de la moyenne devraient correspondre à celles de l’antenne source, mais la hauteur et la largeur de la zone ne doivent en aucun cas dépasser respectivement 60 cm et 30 cm, car ces dimensions correspondent approximativement à la taille moyenne d’un torse humain.

Les mesures doivent être effectuées sur une grille de neuf points, comme le montre la figure B2. Les points extérieurs sont uniformément espacés en fonction des dimensions de l’antenne source ou du torse humain. La mesure centrale doit être effectuée au point d’exposition maximale dans la zone de calcul de la moyenne, sauf si cet emplacement coïncide avec l’un des points de mesure, auquel cas la mesure centrale doit être effectuée au centre géométrique de la zone de calcul de la moyenne.

Figure B2 : Illustration des exigences d’échantillonnage discret lors du calcul de la moyenne spatiale du champ H

Figure B2 : Illustration des exigences d’échantillonnage discret lors du calcul de la moyenne spatiale du champ H (la description détaillée se trouve sous l'image)
Description de la figure B2

Silhouette d’un corps humain sur laquelle se trouve 9 petits cubes superposés. Il y a trois rangées de cubes, placées à 30 cm l’une de l’autre. La première rangée se trouve au niveau des épaules, la deuxième au niveau du sternum, et la dernière au niveau des hanches. Les trois colonnes de cubes sont chacune séparée par 15 cm et couvrent tout le torse.

 

Si les dimensions de l’antenne source sont inférieures à 60 cm de hauteur et 30 cm de largeur, la surface de calcul de la moyenne spatiale changera. Les points extérieurs de la grille de mesure ne doivent pas dépasser les dimensions maximales de l’antenne source. Si les dimensions de l’antenne source sont inférieures à trois fois celles de la ou des antennes sondes associées, le nombre de points de la grille doit être réduit à cinq, les points de mesure médians du périmètre extérieur étant omis et la mesure centrale étant effectuée au centre géométrique de la grille.

Pour les antennes sources dont les dimensions dépassent 60 cm de haut et 30 cm de large, le calcul de la moyenne spatiale doit être fait sur des grilles pour lesquelles les mesures dans les coins sont maximisées. Cela peut nécessiter plusieurs emplacements de grilles sur la zone de l’ouverture de l’antenne source. Le champ H maximal se trouve souvent près du bord de l’ouverture de l’antenne, coïncidant ainsi avec le périmètre de la grille. Dans ce cas, la mesure centrale doit être effectuée au centre géométrique de la grille.

Pour les évaluations fondées sur la SN, les valeurs du \(RE_{NRH-SN} \) doivent être évaluées à chaque point de mesure conformément à la section 7.2. La moyenne arithmétique des résultats doit être considérée comme étant la moyenne spatiale de la contribution du ratio d’exposition fondé sur la SN de l’évaluation.

Lorsqu’on fait une évaluation en fonction de niveaux de référence fondés sur le DAS, il faut commencer par démontrer que les valeurs du \(RE_{NR-DAS} \) obtenues de chaque point conformément à la section 7.2 dépendent exclusivement du champ H. Si c’est le cas, la moyenne arithmétique des résultats doit être considérée comme étant la moyenne spatiale de la contribution du ratio d’exposition fondé sur le DAS de l’évaluation.

Annexe C : Lignes directrices supplémentaires sur les évaluations dans le domaine temporel fondées sur des mesures par rapport aux niveaux de référence fondés sur le DAS

L’annexe C fournit des lignes directrices supplémentaires sur les évaluations dans le domaine temporel fondées sur des mesures par rapport aux niveaux de référence fondés sur le DAS.

C.1. Aperçu des évaluations

La procédure proposée pour évaluer le ratio d’exposition fondé sur le DAS peut être résumée comme suit :

  1. Appliquer une transformation de Fourier rapide (TFR) glissante à H(t) et E(t), les grandeurs mesurées des vecteurs champs H et E. Sous réserve que des considérations comme le repliement de spectre, la troncature ou les fuites spectrales ainsi que l’effet d’échelle soient correctement pris en compte, les spectres d’amplitude RMS associés à H(t) et E(t) peuvent être obtenus pour l’intervalle de temps sur lequel la TFR a été appliquée.
  2. Pour chaque ensemble de spectres, isoler la gamme de fréquences associée à l’évaluation, et évaluer le ratio d’exposition correspondant à cet intervalle de temps.
  3. Appliquer une moyenne glissante de six minutes à ces ratios d’exposition, pour obtenir le ratio d’exposition fondé sur le DAS pour la ou les émissions considérées.
 

C.2. Conditions pour la TFR

Les points suivants doivent être pris en considération dans l’application d’une TFR glissante au point K à H(t) et E(t) :

  1. L’intervalle de temps pour l’application de chaque TFR, désigné Tw, doit être assez long pour produire une résolution en fréquence suffisante pour les besoins de l’évaluation. Une condition similaire à \(T_{w}\geq 100/ \sqrt{f_{basse}f_{haute}} \) est recommandée, dans laquelle fbasse et fhaute sont respectivement la plus basse fréquence et la plus haute fréquence associées à l’évaluation.
  2. La fréquence d’échantillonnage, désignée \(f_{é} \), doit être assez élevée pour éviter le repliement de spectre et les effets de recouvrement du spectre, soit plus du double de la plus haute fréquence associée à l’évaluation. Une condition similaire à \( f_{s}\geq 2(f_{haute}+f_{bas}) \) est recommandée.
  3. Le nombre d’échantillons temporels associés à la TFR est donné par \( N=\left \lfloor f_{s}T_{w} \right \rfloor \), dans lequel \( N=\left \lfloor * \right \rfloor \) désigne une opération « plancher » ou « arrondi au nombre inférieur ». La condition KN doit être remplie. Il est en outre recommandé que K soit la prochaine puissance de 2 par rapport à N.
  4. Les effets de troncature et la fuite spectrale doivent être évités. Il est recommandé pour cela de faire une mise à l’échelle des échantillons temporels par la fenêtre de Hann.
  5. L’intervalle de temps entre les évaluations TFR successives, désigné \(t_{gliss} \), doit être assez petit pour assurer la fidélité intégrale et continue de la dynamique des champs mesurés. Si la fenêtre de Hann est appliquée, il est recommandé d’avoir \(T_{gliss}\leq 0,1T_{w} \).
 

C.3. Isolation de la gamme de fréquences d’évaluation et mise à l’échelle de la TFR

Appelons \(H_{w}[k] \) et \(E_{w}[k] \)les spectres discrets produits par la TFR au point K de H(t) et E(t) sur l’intervalle de temps le plus récent Tw, dans lequel k est l’indice de fréquence. La gamme de fréquences associée à \(H_{w}[k] \) et \(E_{w}[k] \) couvre de 0 Hz à fé, avec la portion fé/2 à fé représentant le contenu de fréquence négative. Comme l’évaluation se fait sur une gamme de fréquences limitée, p. ex. de 100 kHz à 10 MHz, les valeurs correspondantes de k doivent être identifiées. La fréquence correspondant au k-ième échantillon, désignée fk, peut s’exprimer comme suit :

\[ f_{k}=\frac{(k-1)}{K}f_{é} \]
(18)
 

permettant à k d’être mis en correspondance avec la fréquence. Appelons \(k_{min,H} \) et \(k_{min,E} \) les minimums de k pour lesquels fk est respectivement dans les gammes de fréquences d’évaluation des champs H et E. Similairement, appelons kmax le maximum de k pour lequel \(f_{k} ≤ f_{haute} \).

Pour l’évaluation des gammes de fréquences, les spectres RMS associés à \(H_{w}[k] \) et \(E_{w}[k] \), désignés \(H_{w,rms} [k] \) et \(E_{w,rms} [k] \), peuvent être exprimés comme suit :

\[H_{w,rms}[k]=\frac{\sqrt{2}}{aN}\left | H_{w}[k] \right | \]
(19)
 

et

\[E_{w,rms}[k]=\frac{\sqrt{2}}{aN}\left | E_{w}[k] \right | \]
(20)
 

a est le facteur d’échelle de la fenêtre, par exemple a = 0,5 pour la fenêtre de Hann.

C.4. Évaluation du ratio d’exposition fondé sur le DAS

Le ratio d’exposition fondé sur le DAS associé à l’intervalle de temps (Tw) au cours duquel la plus récente TFR a été faite, désignée RENR-DAS,w, peut être exprimée par l’équation suivante :

\[ RE_{NR-DAS,w} = \frac{N}{K}\sum_{k=k_{min,H}}^{k=k_{max}}\left\{\begin{matrix} \left ( \frac{H_{w,rms}[k]}{H_{NR-DAS}[f_{k}]} \right )^{2} & k< k_{min,E} \\ max[\left ( \frac{H_{w,rms}[k]}{H_{NR-DAS}[f_{k}]} \right )^{2},\left ( \frac{E_{w,rms}[k]}{E_{NR-DAS}[f_{k}]} \right )^{2}] & k \geq k_{min,E} \end{matrix}\right. \]
 

(21)

 

dans laquelle \(H_{NR-DAS} [f_{k}] \) et \(E_{NR-DAS} [f_{k}] \) sont respectivement les valeurs des niveaux de référence du champ H et du champ E fondés sur le DAS à la fréquence fk.

Le ratio d’exposition fondé sur le DAS associé à l’évaluation, \(RE_{NR-DAS} \) , est obtenu en appliquant une moyenne temporelle glissante de six minutes à \(RE_{NR-DAS,w} \) , et en trouvant le maximum sur n’importe quelle période de six minutes.

Annexe D : lignes directrices supplémentaires pour les mises en place de transfert d’alimentation sans fil (TASF)

L’annexe D fournit des lignes directrices supplémentaires spécifiques pour les mises en place de TASF.

D.1. Généralités

Le MAE associé à une application TASF est présumé être constitué d’une ou de plusieurs sources TASF et d’un ou de plusieurs clients TASF. Si une source TASF est conçue pour fonctionner avec divers clients TASF, par exemple un chargeur sur table, et ne se qualifie pas pour la procédure d’évaluation informatique réduite, telle que définie à la section D.3, le MAE doit comprendre un ou plusieurs clients TASF représentatifs, de façon à produire la pire exposition aux RF. En pareil cas, la logique de choix du ou des clients TASF doit figurer dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

En plus de l’information demandée à la section 5.4, la description opérationnelle d’une mise en place d’un TASF devrait contenir les éléments suivants :

  1. le mécanisme de couplage sans fil permettant le transfert d’alimentation. Les exemples courants comprennent, sans s’y limiter, la résonance du champ magnétique et du champ électrique capacitifs et inductifs;
  2. le profil de transfert au cours de l’opération. Pour chaque combinaison de source TASF et de client TASF, il faut indiquer :
    1. la puissance d’émission nominale et maximale de la source TASF;
    2. la relation entre la puissance d’émission et le déplacement du client TASF, dans toutes les directions, par rapport à la position et à l’orientation qui offrent la performance optimale;
    3. le déplacement maximal qui peut être toléré dans chaque direction avant que le transfert d’alimentation soit interrompu;
    4. la relation entre la puissance émise et la condition de charge du client TASF, par exemple le niveau de charge de la batterie.
  3. s’il y a lieu, il faut décrire le protocole de communication entre la ou les sources TASF et le ou les clients TASF pour la gestion du transfert d’alimentation;
  4. pour chaque cas d’utilisation pertinent dans le contexte de l’exposition aux RF, il faut indiquer le nombre de sources TASF et de clients TASF impliqués, ainsi que la nature de l’interaction entre le système et l’utilisateur ou les passants.

Remarque : Certains dispositifs peuvent fonctionner comme une source TASF ou un client TASF, selon le contexte d’utilisation. Pour ces dispositifs, il convient de donner des détails sur chacun des modes de fonctionnement.

D.2. Conditions d’exposition

La présente section fournit des lignes directrices sur les conditions d’exposition créées par la mise en place de TASF.

D.2.1. Aperçu

Conformément aux sections 5.1 et 5.2, les conditions clés d’exposition aux RF, ainsi que les distances de séparation correspondantes, doivent être indiquées. Pour les mises en place de TASF comprenant une seule source et un seul client, les conditions d’exposition peuvent être classées en deux grandes catégories :

  • l’exposition causée par le système TASF au cours du transfert d’alimentation;
  • l’exposition directe causée par la source TASF.

Les sections qui suivent donnent des lignes directrices complémentaires pour ces catégories.

Pour les systèmes TASF qui comprennent plusieurs clients TASF ou sources TASF, il faut couvrir les conditions d’exposition de toutes les combinaisons possibles de sources TASF et de clients TASF.

D.2.2. Exposition causée par le système TASF pendant un transfert d’alimentation

Cette catégorie d’exposition peut être décrite comme suit : une source TASF transfère de l’énergie à un client TASF suffisamment aligné, alors qu’un utilisateur se trouve à proximité. La conformité doit être évaluée pour la combinaison la plus défavorable :

  • de la puissance d’émission, pour un facteur d’utilisation de 100 %,
  • du déplacement du client TASF, dans une direction quelconque, à partir de la position et de l’orientation correspondant à la performance TASF optimale,
  • de la position de l’utilisateur et/ou du passant à la distance de séparation correspondante.

La conformité devrait également être évaluée lorsque le client TASF est positionné de façon optimale.

Pour les évaluations par rapport aux limites fondées sur le DAS et la SN, la ou les distances de séparation doivent être déterminées conformément à la section 5.2. Pour les produits de consommation, comme les tapis de recharge de table, les appareils portables compatibles TASF, etc., les évaluations par rapport aux limites fondées sur la SN doivent être effectuées en position de toucher (0 cm), car l’utilisateur interagira directement avec un ou plusieurs des appareils TASF concernés. Dans l’exemple d’un tapis de recharge, l’utilisateur pose son appareil directement sur le tapis et peut le récupérer à tout moment au cours du cycle de recharge.

D.2.3. Exposition directe causée par la source TASF

Selon la mise en place, il est possible que l’utilisateur soit directement exposé à l’énergie RF émise par une source TASF. Cela peut se produire lorsqu’un ou plusieurs clients TASF entrent ou sortent de la zone de couplage TASF au fil du temps. En l’absence d’un client TASF adéquatement couplé, la ou les antennes ou le ou les éléments de couplage de la source TASF peuvent continuer d’être alimentés en vue de « chercher » un client TASF viable. Cette recherche peut se faire avec un cycle d’utilisation réduit, à un niveau de puissance réduit, ou les deux. La conformité devrait être évaluée lorsque l’utilisateur est dans la position la plus défavorable, soit à la distance de séparation minimale devant le ou les éléments de couplage de la source TASF.

L’exposition directe à une source TASF peut être importante immédiatement après le retrait soudain d’un client TASF pendant un transfert d’alimentation. Selon le délai nécessaire pour que la source TASF détecte le retrait du client TASF et s’éteigne, il est possible que l’utilisateur soit exposé aux champs de la source sous pleine tension, ce qui peut représenter un scénario du pire cas d’exposition pour la SN (exposition instantanée). Ce délai doit être fourni dans le mémoire technique sur l'exposition aux RF, conformément à la section 5.4.4. De ce fait, la conformité devrait être évaluée quand l’utilisateur est dans la position la plus défavorable, par exemple à la distance minimale de séparation devant le ou les éléments de couplage de la source TASF, à moins que cette dernière ne soit conçue pour s’éteindre en moins d’une seconde ou qu’on puisse démontrer que d’autres mesures sont prises pour parer ce scénario d’exposition. Les tracés d'essai dans le domaine temporel démontrant que la source TASF cesse de transmettre dans la seconde qui suit le retrait de la charge d'essai doivent être inclus dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

Pour les mises en place de TASF dans lesquelles l’utilisateur interagit directement avec les appareils en cause, l’exposition directe aux émissions de la source TASF devrait être évaluée en position de toucher (0 cm).

D.3. Évaluations informatiques pour les mises en place de petits TASF

Une méthode simplifiée et conservative d’évaluation informatique peut être appliquée pour les dispositifs dont la source TASF a des caractéristiques répondant aux conditions suivantes :

  • \(D_{s}\) ≤ 20 cm, \(D_{s}\) étant la plus grande dimension linéaire de l’antenne de la source TASF. Si l’antenne est constituée d’un réseau d’éléments, comme des bobines, des électrodes, etc., c’est l’ensemble du réseau qui doit respecter cette condition;
  • la face de l’enceinte du dispositif associée au TASF, c’est-à-dire la surface de charge, doit être plane pour recevoir un fantôme plat.

Si c’est le cas, les lignes directrices suivantes peuvent être appliquées pour faire une évaluation informatique :

  1. le MAE peut être limité au dispositif constituant la source TASF, c’est-à-dire qu’un client TASF représentatif ne serait pas considéré comme faisant partie du MAE;
  2. l’antenne de la source TASF doit être alimentée en continu au maximum d’intensité que l’émetteur peut fournir;
  3. un fantôme plat homogène doit être employé en position de toucher (0 cm), c.-à-d. avec la surface extérieure du fantôme en contact avec l’enceinte de la source TASF. De plus :
    1. les propriétés de matériaux indiquées au tableau 3 de la section 8 du présent document doivent être utilisées;
    2. les dimensions du fantôme doivent être assez grandes pour que leur augmentation dans n’importe quelle direction n’ait pas d’effet mesurable sur les résultats de l’évaluation. Elles doivent être supérieures au double de la valeur de Ds dans chaque direction; toutefois, la profondeur du fantôme peut être plus petite s’il est démontré que cela n’a pas d’effet mesurable sur les résultats;
    3. le fantôme doit être disposé de façon à assurer une exposition maximale, par exemple centré par rapport à l’antenne de la source TASF;
  4. l’analyse d’incertitude et la validation du modèle doivent se faire conformément à la section 8.3.5;
  5. les valeurs du RERB-DAS et RERB-SN doivent être évaluées conformément à la section 8.4.2, et les RET correspondants doivent être calculés.

La conformité peut ainsi être démontrée si les conditions suivantes sont respectées :

  • \(RE_{RB-DAS}\)< 0,75 (valeur nominale)
  • \(RE_{RB-SN}\)< 0,75 (valeur nominale)
  • \(RET_{therm}\)≤ 1
  • \(RET_{SN}\)≤ 1

La logique d’utilisation de cette méthode, ainsi que les résultats de l’évaluation, doit être documentée dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF. Lorsque les conditions ci-dessus ne peuvent être respectées, une analyse complète selon la section 8 doit être fournie.

D.4. Évaluations en fonction des niveaux de référence pour la mise en place de TASF dans les véhicules électriques (VE)

La présente section fournit des lignes directrices pour évaluer la mise en place de TASF dans les VE.

D.4.1. Mises en place applicables

Les lignes directrices mentionnées ci-dessous s’appliquent aux mises en œuvre de TASF des VE qui respectent les critères suivants :

  • le sous-ensemble source TASF est conçu pour être installé dans ou sur le sol et fait partie d’un ensemble au sol (ES);
  • le sous-ensemble client TASF est monté sur le dessous du VE et fait partie d’un ensemble à bord du véhicule (EBV).

Pour toutes les autres mises en œuvre de TASF dans les VE, une demande doit être soumise à ISDE.

D.4.2. Exigences générales

Pour les mises en œuvre de TASF des VE répondant aux critères de la section D.4.1, la conformité peut être démontrée en effectuant une évaluation par rapport aux niveaux de référence. Ces évaluations peuvent se faire soit par des mesures effectuées conformément à la section 7, soit par des simulations utilisant le modèle informatique validé selon la section 8. Si les niveaux de référence sont dépassés, une évaluation en fonction des restrictions de base est nécessaire et une demande doit être soumise à ISDE.

L’évaluation portera sur les ratios d’exposition fondés sur la SN et sur le DAS pour la combinaison la plus défavorable :

  • de la configuration du système, par exemple ES et EBV simples ou multiples, etc.;
  • de l’intervalle sans fil et du désalignement horizontal entre les ES et les EBV;
  • de l’état de la recharge du VE;
  • des conditions d’exposition :
    • exposition directe aux ES, c’est-à-dire aucun véhicule présent, s’il y a lieu;
    • exposition au système TASF du VE durant la recharge, c.-à-d. à l’intérieur ou à l’extérieur du véhicule, ou en se glissant sous le véhicule.

Si le ou les ES produisent des émissions dans la gamme de 3 kHz à 10 MHz en l’absence de véhicule, par exemple pendant la recherche d’un client TASF viable, l’exposition directe aux émissions des ES doit être évaluée. Dans ce cas, le ou les ES peuvent être traités comme des dispositifs montés sur le sol et sur lesquels on peut marcher et être évalués conformément aux lignes directrices pertinentes de la section E.2 de l’annexe E.

Pendant la recharge du VE, il faut tenir compte des champs qui entourent le véhicule. Cet espace peut être très généralement divisé en 3 régions distinctes, comme le montre la figure D1.

  • Région 1 : sous le véhicule. C’est dans cette région qu’on observe les niveaux de champs les plus intenses, car c’est généralement là que sont montés les ES et les EBV. C’est aussi la région la moins accessible pendant la recharge, et on suppose que le scénario d’exposition le plus probable est celui d’un utilisateur ou d’un passant qui se glisse sous le véhicule pour récupérer ou chercher un objet pendant le cycle de charge.
  • Région 2 : à l’extérieur du véhicule. Les utilisateurs et les passants peuvent se tenir à côté du véhicule ou s’y appuyer à tout moment au cours du cycle de recharge. En raison du blindage inhérent offert par le châssis du véhicule, dans la plupart des cas, on s’attend à ce que les champs les plus intenses soient observés près de l’espace entre le sol et le bas de la caisse.
  • Région 3 : à l’intérieur du véhicule. Les utilisateurs ou les passants peuvent occuper n’importe quelle place à l’intérieur du véhicule à tout moment au cours du cycle de recharge.
 

Figure D1 : Illustration de la mise en place d’un TASF pour un véhicule (vue de l’avant)

Illustration de la mise en place d’un TASF pour un véhicule (vue de l’avant) (la description détaillée se trouve sous l'image)
Description de la figure D1

Vue de face d'une voiture, capot en avant, avec les trois régions illustrées (dessous, extérieur et intérieur du véhicule). L'EBV (ensemble à bord du véhicule) et l'ES (ensemble au sol) sont représentés par de fines boîtes dans la région 1. L'EBV est attaché au-dessous de la voiture, et directement sous lui repose l'ES.

 
D.4.3. Région 1, sous le véhicule

Les niveaux de référence fondés sur la SN ne doivent pas être dépassés lorsqu’un adulte ou un enfant se glisse sous le véhicule à un moment quelconque du cycle de recharge. Le facteur d’assouplissement du champ H pour l’exposition d’un bras peut être utilisé, si la garde au sol du VE est telle qu’il n’est ni réaliste ni pratique pour un adulte ou un même un enfant de passer la tête sous le véhicule.

Si des capteurs sont utilisés pour détecter la présence de tissus vivants ou d’autres corps étrangers et réduire l’alimentation en conséquence, cette fonction doit être décrite dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF. La zone de couverture du ou des capteurs doit être définie comme la zone à l’intérieur de laquelle la main d’un petit enfant est détectée de manière cohérente et fiable, et les mesures de sécurité appropriées sont déclenchées. Cette zone doit être validée expérimentalement, en tenant compte de tout effet d’hystérésis associé au déclenchement, ainsi que des conditions de fonctionnement du système TASF du VE, par exemple la configuration du système, l’intervalle sans fil, le désalignement, les conditions de charge, etc. Les résultats de la validation serviront à déterminer la ou les pires conditions d’exposition associées à la région 1. Ces conditions doivent figurer dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF, avec les résultats d’évaluation correspondants.

D.4.4. Région 2, à l’extérieur du véhicule

Cette région s’étend vers l’extérieur à partir de la surface extérieure du châssis du véhicule, sans tenir compte des saillies telles que les rétroviseurs latéraux, comme le montrent la figure D1 ci-dessus et la figure D2 ci-après. Les niveaux de référence fondés sur la SN ne devraient pas être dépassés dans toute la région 2. Les facteurs d’assouplissement ne doivent pas être appliqués pour les évaluations fondées sur la SN à l’extérieur du véhicule.

Si la mise en place d’un TASF pour VE produit des émissions à des fréquences supérieures à 100 kHz, il faut aussi faire une évaluation par rapport aux niveaux de référence fondés sur le DAS dans la région 2. Comme pour la SN, les niveaux de référence fondés sur le DAS ne devraient pas être dépassés en tout point de la région 2; toutefois, le niveau de référence assoupli du champ H fondé sur le DAS pour l’exposition d’une jambe, indiqué dans le tableau 2 (section 5 du présent document), peut être appliqué à moins de 85 cm du sol. Si les niveaux de référence sont dépassés, une évaluation par rapport aux restrictions de base doit être effectuée.

Figure D2 : Illustration de la mise en place d’un TASF pour un véhicule (vue de dessus).

Illustration de la mise en place d’un TASF pour un véhicule(la description détaillée se trouve sous l'image)
Description de la figure D2

Vue aérienne d'une voiture. La région 2 est illustrée à l'extérieur de son périmètre. Les positions de l'EBV (ensemble à bord du véhicule) et de l'ES (ensemble au sol) sont superposées entre le siège du passager et celui du conducteur. En outre, la différence de surface occupée par l’EBV et l’ES est mise en évidence, l’ES étant plus grande.

 
D.4.5. Région 3, à l’intérieur du véhicule

À l’intérieur de l’habitacle du véhicule, les évaluations doivent être faites par rapport aux niveaux de référence fondés sur la SN et, le cas échéant, sur le DAS. Ces niveaux ne devraient pas être dépassés en tout point de l’habitacle. Sinon, une évaluation en fonction des restrictions de base doit être effectuée. L’évaluation par rapport aux niveaux de référence du DAS peut se concentrer sur les places du conducteur et des passagers. Il faut tenir compte des éléments suivants dans l’application des facteurs d’assouplissement du champ H :

  1. exposition des pieds posés sur le plancher de l’habitacle. Les facteurs d’assouplissement du champ H pour l’exposition des pieds et des mains peuvent être appliqués jusqu’à 10 cm du plancher de la cabine;
  2. exposition des jambes en position assise. Les facteurs d’assouplissement du champ H pour l’exposition des jambes peuvent être appliqués jusqu’à une hauteur de 50 cm au dessus du plancher;
  3. exposition de la tête et du torse en position assise. Cette évaluation couvre les hauteurs à partir de 50 cm au-dessus du plancher, et les facteurs d’assouplissement du champ H ne sont pas applicables.

Annexe E : Lignes directrices supplémentaires pour divers types d’appareils

La présente annexe fournit des lignes directrices supplémentaires pour divers types d’appareils courants, autres que les mises en place de TASF, qui sont couvertes dans l’annexe D.

E.1. Appareils au sol

La présente section contient des lignes directrices supplémentaires pour les appareils au sol, dont :

  • les systèmes électroniques de surveillance d’articles (SEA), composés en général d’ensembles d’antennes disposés de part et d’autre d’un accès d’entrée ou de sortie d’un magasin, qui servent à détecter les étiquettes qui traversent la zone;
  • les tourniquets d’identification par radiofréquence (IRF), qui requièrent en général que l’utilisateur glisse une carte IRF au-dessus du tourniquet pour avoir accès à un passage d’entrée;
  • les portiques de sécurité, comportant en général des détecteurs de métaux que le corps humain doit traverser.
E.1.1. Position de la grille de torse pour déterminer la moyenne spatiale du champ H en fonction des niveaux de référence

Pour les appareils au sol munis d’antennes de plus de 145 cm de hauteur et de plus de 30 cm de largeur, la grille de torse doit être placée à 85 cm au-dessus du sol et positionnée de telle sorte que le bord droit ou gauche de la grille se trouve à l’endroit où l’exposition est la plus élevée. La figure E1 donne un exemple de positionnement de la grille de torse.

Figure E1 : Exemple illustrant le positionnement de la grille de torse pour obtenir la moyenne spatiale du champ H lorsque la ou les antennes d’un MAE au sol mesurent plus de 145 cm de hauteur et plus de 30 cm de largeur

Exemple illustrant le positionnement de la grille de torse pour obtenir la moyenne spatiale du champ H lorsque la ou les antennes d’un MAE au sol mesurent plus de 145 cm de hauteur et plus de 30 cm de largeur (la description détaillée se trouve sous l'image)
Description de la figure E1

Une boucle de 145 cm de haut et 30 cm de large avec 9 petits cubes superposés. Les cubes sont arrangés en 3 colonnes séparées par 15 cm, et 3 rangées séparées par 30 cm. La rangée du bas est surélevée de 85 cm par rapport à la base de la boucle.

 

Pour les appareils au sol dont les antennes sont plus petites que la grille du torse, ou sont placées plus bas que 85 cm et couvrent seulement une partie de la grille de torse, la zone de calcul de la moyenne spatiale doit rester supérieure à 85 cm, et le calcul de la moyenne ne doit pas utiliser de points au delà des dimensions de la ou des antennes.

E.2. Appareils montés au plancher

La présente section contient des lignes directrices supplémentaires pour les appareils montés au plancher, par exemple :

  • les appareils montés au plancher et sur lesquels on marche, comme les dispositifs de chronométrage utilisés pour les courses, munis d’une antenne au sol qui lit l’étiquette IRF portée par un coureur lorsqu’il passe au-dessus;
  • les appareils montés au plancher qui détectent la présence d’un objet, c’est-à-dire les appareils posés sur le plancher et qui s’activent lorsqu’un objet se trouve dessus. La condition d’exposition est qu’un humain doit se trouver à proximité de l’objet.

Remarque : Les petits appareils commandés au sol, c’est-à-dire n’importe lequel des appareils ci-dessus, ou simplement un appareil posé au sol qui utilise l’IFR pour effectuer une action quelconque, peuvent être traités comme des appareils de table et évalués conformément à la section E.5.

E.2.1. Emplacements d’évaluation

L’exposition causée par tout appareil monté au plancher sur lequel le public peut marcher doit être évaluée de 0 cm à 180 cm, selon l’axe qui produit les pires résultats.

Pour les appareils montés au plancher et obstrués par un objet, c’est-à-dire sur lesquels le grand public ne peut pas marcher pendant leur fonctionnement, l’exposition aux RF doit être évaluée sans l’objet obstruant. Cette condition peut nécessiter l’emploi d’un logiciel de mode de test. L’exposition doit être évaluée sur un nombre suffisant de radiales autour du périmètre de l’objet obstruant type pour fournir une séparation minimale de 22,5° entre chaque radiale. À chaque radiale, l’exposition doit être évaluée de 0 cm à 180 cm au-dessus du sol pour les obstacles non métalliques, et de 0 à la hauteur moyenne d’exposition pour les obstacles métalliques. Dans ce dernier cas, la hauteur moyenne d’exposition et la justification correspondante doivent figurer dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

E.2.2. Calcul de la moyenne spatiale

Il n’y a pas lieu de déterminer une moyenne spatiale pour faire l’évaluation de l’exposition aux RF d’un appareil monté au plancher.

E.2.3. Facteurs d’assouplissement applicables aux membres

Dans le cas des appareils montés au plancher et sur lesquels on marche, les facteurs d’assouplissement pour les pieds peuvent être appliqués de 0 cm jusqu’à 10 cm. On peut appliquer les facteurs d’assouplissement pour la jambe de 10 cm à 85 cm,. Au-dessus de 85 cm, les facteurs d’assouplissement ne doivent plus être appliqués.

Pour les appareils montés au plancher et obstrués par un objet, c’est-à-dire sur lesquels le grand public ne peut pas marcher pendant leur fonctionnement, les facteurs d’assouplissement pour la jambe peuvent être appliqués jusqu’à des hauteurs de 85 cm. Au-dessus de cette hauteur, les facteurs d’assouplissement ne doivent pas être appliqués.

E.3. Appareils portatifs

La présente section contient des lignes directrices supplémentaires pour les appareils portatifs, par exemple :

  • Les appareils portatifs utilisés pour balayer le corps humain, comme les détecteurs de métal portatifs. Ces dispositifs sont utilisés en contact étroit avec le corps humain et la condition d’exposition touche plus le corps soumis au balayage que l’utilisateur de l’équipement.
  • Les appareils portatifs utilisés pour balayer un objet, comme les lecteurs IFR portatifs. Ces dispositifs servent généralement à balayer des objets au lieu d’un corps humain, de sorte que le but principal est d’évaluer l’exposition aux RF des extrémités de l’utilisateur, c’est-à-dire ses mains.
E.3.1. Emplacements d’évaluation

Pour les appareils portatifs utilisés pour balayer un corps humain, l’évaluation doit se faire à une hauteur de 130 cm. L’exposition aux RF devrait être évaluée dans toutes les orientations autour de l’appareil portatif. L’appareil pourrait aussi être testé comme pour un appareil de table sur trois axes orthogonaux, en suivant les lignes directrices de la section E.5.

Pour les appareils portatifs utilisés pour balayer un objet, l’évaluation doit se faire à une hauteur de 100 cm. L’évaluation de l’exposition aux RF doit porter sur la zone où la main de l’utilisateur serait placée et à la distance de séparation correspondante. Si les régions d’exposition maximale ne sont pas accessibles en raison de la construction de l’appareil, une évaluation informatique peut être effectuée. Une évaluation fondée sur des mesures peut aussi être réalisée sur un dispositif démonté, à condition que le comportement des émetteurs ne soit pas sensiblement affecté par le démontage. Cet aspect doit être démontré dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF.

E.4. Appareils montés au mur (ou appareils muraux)

La présente section fournit des lignes directrices supplémentaires pour les appareils muraux. Dans cette gamme de fréquences, les appareils sont en général utilisés pour l’IRF, ils sont, par exemple, fixés sur un mur à côté d’une porte et servent à lire une carte IFR.

Les appareils muraux peuvent être évalués conformément aux directives sur les appareils de table, fournies à la section E.5, mais aux distances de séparation associées à cet appareil. Les évaluations de l’exposition aux RF devraient seulement être nécessaires en s’éloignant du mur, à condition que la construction du mur assure une distance de séparation beaucoup plus grande que celle précisée pour l’appareil à la section 5.2.

E.5. Appareils de table

La présente section fournit des lignes directrices supplémentaires pour les appareils de table.

E.5.1. Installation d’évaluation

Si l’appareil est installé de manière permanente sur une table, l’évaluation doit être effectuée en supposant que l’utilisateur est positionné de manière à subir l’exposition la plus élevée, par exemple au bord le plus près de la table sur lequel est placé l’appareil. Sinon, l’appareil doit être placé sur le bord d’une table non métallique à une hauteur de 80 cm. L’équipement de support utilisé pour faire fonctionner l’appareil doit également être placé le long du bord, avec un minimum de 10 cm entre chaque élément.

Les éléments suivants doivent être démontrés :

  1. les mains de l’utilisateur ne doivent pas être surexposées lorsque l’utilisateur interagit avec l’appareil en fonctionnement. L’évaluation fondée sur la SN doit être effectuée à la position du toucher (0 cm), tandis que l’évaluation fondée sur le DAS doit être effectuée à une distance de séparation prudente basée sur une exposition de six minutes conformément à la section 5.2. Lors d’une évaluation par rapport aux niveaux de référence du champ H, les facteurs d’assouplissement des mains/pieds peuvent être appliqués;
  2. les jambes de l’utilisateur ne doivent pas être surexposées sous le plateau de la table. La distance minimale prévue entre la surface inférieure de la table et les jambes de l’utilisateur peut être appliquée pour l’évaluation, à condition que la valeur et la justification de cette distance soient documentées dans le mémoire technique sur l’exposition aux RF. Pour une évaluation par rapport aux niveaux de référence du champ H, les facteurs d’assouplissement des jambes peuvent être appliqués;
  3. le tronc ou le torse de l’utilisateur ne doit pas être surexposé. La distance entre le torse et le bord de la table doit être de 0 cm pour l’évaluation fondée sur la SN. Pour l’évaluation fondée sur le DAS, une distance de séparation prudente doit être considérée sur la base d’une exposition de six minutes conformément à la section 5.2. Les facteurs d’assouplissement ne doivent pas être appliqués.
 

Remarque :  Les trois conditions peuvent être satisfaites en démontrant la conformité avec les niveaux de référence sans assouplissement en position de contact (0 cm) sur tous les côtés du MAE.

Annexe F : Bibliographie

Les documents ci-dessous sont disponibles en anglais seulement.

Institute of electrical and electronics engineers (IEEE) C95.3.1-2010, IEEE Recommended Practice for Measurements and Computations of Electric, Magnetic, and Electromagnetic Fields with Respect to Human Exposure to Such Fields, 0 Hz to 100 kHz, mai 2010.

Institute of electrical and electronics engineers (IEEE) C95.3-2002, IEEE Recommended Practice for Measurements and Computations of Radio Frequency Electromagnetic Fields With Respect to Human Exposure to Such Fields, 100 kHz-300 GHz, janvier 2003.

International Electrotechnical Commission (IEC) PAS 63184, Assessment methods of the human exposure to electric and magnetic fields from wireless power transfer systems - Models, instrumentation, measurement and numerical methods and procedures (frequency range of 1 kHz to 30 MHz).

International Electrotechnical Commission (IEC) TS 62764-1, Measurement procedures of magnetic field levels generated by electronic and electrical equipment in the automotive environment with respect to human exposure - Part 1: Low frequency magnetic fields.